|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИПМех РАН |
||
Фрактально – вейвлетный анализ текстуры конструкционного нанокомпозита с полисульфоновым наполнителемстатья
- Авторы: Артемьев А.И., Лукашина С.И.
- Журнал: Успехи в химии и химической технологии
- Том: 30
- Номер: 2
- Год издания: 2016
- Издательство: Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Российский химико-технологический университет им. Д.И. Менделеева"
- Местоположение издательства: Москва
- Первая страница: 123
- Последняя страница: 125
- Аннотация: С использованием комплекса программ «FRA_VA_T», реализующего фрактально – вейвлетный алгоритм анализа микрофотоизображений текстуры нанокмпозита, в процессе бинаризации исходных микрофотоизображений получены их фрактальные размерности. Анализа фрактальных размерностей позволил определить текстуры обоих образцов материала, отличающихся процентным содержанием полисульфона (10% и 20%). Определен, что более прочную и упорядоченную текстуру имеет образец с 20% содержанием полисульфона.
- Добавил в систему: Артемьев Артем Ильич
Прикрепленные файлы
| № | Имя | Описание | Имя файла | Размер | Добавлен |
|---|---|---|---|---|---|
| 1. | Полный текст | MKHT_Artemev_2016.docx | 1,1 МБ | 6 февраля 2018 [ArtemevAA] |