|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИПМех РАН |
||
Structure and properties of near-surface layer of Si, implanted by Zn with high fluence and low energyтезисы доклада
- Авторы: Privezentsev V.V., Kulikauskas V.S., Tabachkova N.Yu, Batrakov A.A.
- Сборник: Book of Abstracts of Intern. Conf. on Thin Solid Film (ICTF)
- Тезисы
- Год издания: 2014
- Место издания: Rudjer Boskovic Institute, Dubrovnik, Croatia
- Первая страница: P286/T11
- Добавил в систему: Куликаускас Вацловас Станиславович