Выберите категорию обращения:
Общие вопросы
Отчеты
Рейтинги
Мониторинговый отчёт
Диссертационные советы
Конкурсы
Ввод данных
Структура организаций
Аспирантура
Научное оборудование
Импорт педагогической нагрузки
Журналы и импакт-факторы
Тема обращения:
Описание проблемы:
Введите почтовый адрес:
ИСТИНА
Войти в систему
Регистрация
ИПМех РАН
Главная
Поиск
Статистика
О проекте
Помощь
EXAFS- и рентгеноэлектронная спектроскопия наноструктур полупроводников в матрицах пористого оксида алюминия
статья
Статья опубликована в журнале из списка RSCI Web of Science
Статья опубликована в журнале из перечня ВАК
Авторы:
Валеев Р.Г.
,
Бельтюков А.Н.
,
Кривенцов В.В.
Журнал:
Инженерная физика
Год издания:
2016
Первая страница:
4
Последняя страница:
12
Добавил в систему:
Бельтюков Артемий Николаевич