Место издания:LAP LAMBERT Academic Publishing Saarbrbruecken, Germany
Объём:
77 страниц
(5,0 печатных листов)
ISBN:978-3-8473-7026-0
Монография
Аннотация:Представлен анализ обратимых отказов возникающих в полупроводниковых приборах при воздействии на них радиоизлучения. Проанализированы функциональные сбои в бытовой электронной аппаратуре. Рассмотрены модели, используемые для анализа этих эффектов. Рассмотрены процессы вызывающие деградационные изменения в полупроводниковой структуре и металлизации приборов. Обсуждаются необратимые отказы полупроводниковых элементов и ИМС, которые обусловлены воздействием мощного импульсного видеоимпульса и радиоизлучения, а также влияние последовательности СВЧ импульсов на вероятность отказа ИМС и модели повреждения ИМС в полях радиоизлучения.