Место издания:Оп.печать физического факультета МГУ Москва
Объём:
192 страниц
Тираж:30 экз.
Учебное пособие без грифа
Аннотация:В последние два-три десятилетия рентгеновские методы исследования магнитных свойств и структуры различных веществ, кристаллов и многослойных магнитных пленок активно развиваются на синхротронах. В пособии рассмотрены теоретические основы магнитного поглощения и рассеяния рентгеновского излучения, как нерезонансного, так и вблизи краев поглощения, и приведены впечатляющие примеры многообразных магнитных исследований. Наиболее важной особенностью рентгеновских резонансных методов является их элементная селективность, недоступная никаким другим магнитным измерениям. Рентгеновские магнитные исследования, начавшиеся в 1972 году с наиболее простых структур и чистых металлов, в настоящее время являются основой комплексного изучения сложных соединений, наведенных магнитных моментов, пленочных структур с разрешением до одного атомного слоя, особенностей электронной структуры мультиферроиков, топологических изоляторов, спиновых переключателей и других важных объектов, динамических процессов на фемтосекундной шкале. Отметим, что в данном пособии не рассмотрена резонансная магнитная дифракция рентгеновского излучения, эта область исследований достаточно подробно представлена в учебном пособии: Е.Н. Овчинникова, А.П. Орешко, В.Е. Дмитриенко, Синхротронные исследования конденсированных сред. Резонансная дифракция синхротронного излучения. Учебное пособие рекомендуется для аспирантов и студентов, специализирующихся в области физики твердого тела и взаимодействия излучения с веществом.
