|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИПМех РАН |
||
Физические основы оптических методов измерений. Методы линейных измерений в нанотехнологиях. Учебное пособиекнига
- Авторы: Истомина Н.Л., Желкобаев Ж.Е.
- Год издания: 2006
- Место издания: МАТИ М
- Объём: 109 страниц
- ISBN: 5-93271-300-3
- Учебное пособие, имеющее гриф
- Добавил в систему: Истомина Наталья Леонидовна