|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИПМех РАН |
||
Методы сканирующей зондовой микроскопиикнига
- Авторы: Трифонов А.С., Преснов Д.Е., Циняйкин И.И., Дорофеев А.А., Крупенин В.А., Снигирев О.В.
- Год издания: 2023
- Место издания: МГУ, Физический факультет МГУ, Физический факультет
- Объём: 32 страниц
- ISBN: 978-5-8279-0260-7
- Тираж: 30 экз.
- Учебное пособие без грифа
- Учебно-методическая литература
- Учебник
- Аннотация: Учебный курс "Основы сканирующей зондовой микроскопии" состоит из 36 академических часов и посвящен в основном обзору традиционных и оригинальных методик сканирующей зондовой микроскопии, а также применению этих методик в физике наноструктур, биологии и материаловедении. Рассмотрены следующие методики: сканирующая туннельная микроскопия, атомно-силовая микроскопия, метод камертона, электросиловые методики. Даны базовые понятия о конструкции конкретных реализаций приборов российских и зарубежных производителей.В курсе также уделяется внимание оригинальным методикам, реализованными производителями (PeakForce (Bruker); bounce-mode (AIST-NT) и т.д.). Для каждой методики приводятся примеры использования и даются сведения об области ее применения.Примерно одна треть материалов курса доступна в учебных и методических пособиях на русском языке. Остальная часть курса является оригинальной. Все понятия, подходы и приложения рассматриваются на уровне курса общей физики с тем, чтобы при дальнейшем изучении дисциплины у обучающихся уже имелось представление об этом направлении физики в целом.
- Добавил в систему: Трифонов Артем Сергеевич