|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИПМех РАН |
||
Методы исследования показателей качества периферийных устройств современных ЭВМ. Методические указания к лабораторным работам по курсу «Периферийные устройства»книга
- Авторы: Силина И.В., Силин А.В.
- Год издания: 2006
- Место издания: РХТУ им.Д.И.Менделеева, Новомосковский институт г.Новомосковск
- Объём: 106 страниц (6,63 печатных листов)
- Тираж: 100 экз.
- Учебно-методическая литература
- Учебное пособие без грифа
- Добавил в систему: Силина Ирина Викторовна