ИСТИНА

Исследованы структурные и магнитные характеристики Co/Cu/Co тонкопленочных структур и завершено изучение особенностей магнитных характеристик Co/Bi/Co образцов с толщиной слоев кобальта 5 нм, а слоев Bi и Сu, изменяющихся от 0.2 до 50 нм и от 0.5 до 4 нм, соответственно, а также Fe/Полимер/Fe. Обнаружено сильное влияние толщины немагнитных слоев на магнитные свойства изучаемых тонкопленочных систем, объясненное наличием обменного взаимодействия между магнитными слоями через немагнитную прослойку. Продолжено изучение магнитных характеристик аморфных микропроводов на основе кобальта и железа с диаметром магнитной жилы 1060 микрон, полученных с помощью модернизированного метода Улитовского-Тейлора. Обнаружено сильное влияние упругих напряжений на магнитные характеристики изучаемых образцов. Экспериментально проанализирована возможность применения аморфных микропроводов в практических приложениях, в частности, использования микропроводов при проведении эндоваскулярных вмешательств.