ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
|
ИПМех РАН |
||
Данная работа посвящена исследованию структуры и состава получаемых ультратонких пленок NbN методами рентгеноструктурного анализа и ожэ-спектроскопии, созданию и исследованию с помощью атомно-силовой микроскопии подложек с регулируемым содержанием девектов на поверхности, а также компьютерное моделирование прохождения электромагнитного излучения инфракрасного диапазона через фазовый модулятор с последующим его изготовлением на основе полученных результатов.