ИСТИНА

Djuzhev N.A.

Соавторы: Дедкова А.А., Демин Г.Д., Makhiboroda M.A., Gusev E.E., Флоринский И.В., Попков А.Ф., Evsikov I.D., Glagolev P.Y., Novikov D.V., Ovodov A.I., Tovarnov D.A., Bespalov V.A., Filippov N.A. показать полностью..., Filippov S.V., Gryazneva T.A., Kolosko A.G., Patyukov N.N., Salashchenko N.N., Лычев С.А., Чхало Н.И., Штерн М.Ю., Belin A.M., Chinenkov M.Y., Fomichev M.Y., Fomichev M.Y., Glagolev A.N., Glagolev P.Y., Gusev E.E., Korotkov S.Y., Kozmin A.M., Onufrienko A.P., Patiukov N., Pestov A.E., Popov A.V., Popov E.O., Preobrazhensky R.Y., Ryabov V.T., Stepanov P.A., Гусев Е.Э., Звездин К.А., Киреев В.В., Киреев В.Ю., Койфман К.Г., Лапшин Р.В., Лопатин А.В., Попов Е.С., Товарнов Д.А., Фомичев М.Ю.

30 статей, 3 доклада на конференциях, 3 тезисов докладов

Количество цитирований статей в журналах по данным Web of Science: 17, Scopus: 18

IstinaResearcherID (IRID): 304521356

Деятельность

• Статьи в журналах

  • • 2022 Approaches to determining curvature of wafers by their topography
    • Dedkova A.A., Florinsky I.V., Dyuzhev N.A.
    • в журнале Physics Uspekhi, издательство Russian Academy of Sciences (Russian Federation), том 65 DOI
  • • 2022 Подходы к определению кривизны пластин по рельефу их поверхности
    • Дедкова А.А., Флоринский И.В., Дюжев Н.А.
    • в журнале Успехи физических наук, издательство Наука (М.), том 192 DOI
  • 
    • 2021 Incompatible Deformations in Additively Fabricated Solids: Discrete and Continuous Approaches
    • Lychev S., Koifman K., Djuzhev N.
    • в журнале Symmetry, издательство MDPI (Basel, Switzerland), том 13, № 12 DOI
  • 
    • 2021 Technique for analyzing volumetric defects using digital elevation model of a surface
    • Dedkova A.A., Florinsky I.V., Gusev E.E., Dyuzhev N.A., Fomichev M.Yu, Shtern M.Yu
    • в журнале Russian Journal of Nondestructive Testing, издательство Maik Nauka/Interperiodica Publishing (Russian Federation), том 57, № 11, с. 1000-1007 DOI
  • • 2021 Методика анализа объемных дефектов по цифровой модели рельефа поверхности
    • Дедкова А.А., Флоринский И.В., Гусев Е.Э., Дюжев Н.А., Фомичев М.Ю., Штерн М.Ю.
    • в журнале Дефектоскопия, № 11, с. 41-48 DOI
  • • 2021 Особенности деформирования круглых тонкопленочных мембран и экспериментальное определение их эффективных характеристик
    • Дедкова А.А., Глаголев П.Ю., Гусев Е.Э., Дюжев Н.А., Киреев В.Ю., Лычев С.А., Товарнов Д.А.
    • в журнале Журнал технической физики, издательство Наука. С.-Петерб. отд-ние (СПб.), том 91, № 10, с. 1454-1465 DOI
  • 
    • 2020 Experimental Determination of Mechanical Properties of the Anode Cell of an X-Ray Lithograph
    • Djuzhev N.A., Gusev E.E., Dedkova A.A., Tovarnov D.A., Makhiboroda M.A.
    • в журнале Technical Physics, издательство Maik Nauka/Interperiodica Publishing (Russian Federation), том 65, № 11, с. 1755-1759 DOI
  • • 2019 Comprehensive analysis of field-electron emission properties of nanosized silicon blade-type and needle-type field emitters
    • Demin G.D., Djuzhev N.A., Filippov N.A., Glagolev P.Y., Evsikov I.D., Patyukov N.N.
    • в журнале Journal of Vacuum Science & Technology B, Nanotechnology and Microelectronics, том 37, № 2
  • 
    • 2019 Development of Technological Principles for Creating a System of Microfocus X-Ray Tubes Based on Silicon Field Emission Nanocathodes
    • Djuzhev N.A., Demin G.D., Filippov N.A., Evsikov I.D., Glagolev P.Yu, Makhiboroda M.A., Chkhalo N.I., Salashchenko N.N., Filippov S.V., Kolosko A.G., Popov E.O., Bespalov V.A.
    • в журнале Technical Physics, издательство Maik Nauka/Interperiodica Publishing (Russian Federation), том 64, № 12, с. 1742-1748 DOI
  • 
    • 2017 Development and study of a conceptual model of an X-ray source with a field emission cathode
    • Djuzhev N.A., Makhiboroda M.A., Preobrazhensky R.Y., Demin G.D., Gusev E.E., Dedkova A.A.
    • в журнале Journal of Surface Investigation: X-ray, Synchrotron and Neutron Techniques, издательство Pleiades Publishing, Ltd (Road Town, United Kingdom), том 11, № 2, с. 443-448
  • 
    • 2017 The characteristics of observation of the non-uniform magnetization on the surface of the thin magnetic films in Ta/CoFeB/MgO/CoFeB/Ta multilayers
    • Djuzhev N.A., Popkov A.F., Makhiboroda M.A., Demin G.D., Kozmin A.M., Chinenkov M.Y.
    • в журнале Журнал Сибирского федерального университета. Серия: Математика и физика, издательство Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования Сибирский федеральный университет (Красноярск), том 10, № 1, с. 40-44
  • 
    • 2016 The features of the current-voltage characteristics of field emission metal cathode covered by a nanometer oxide layer
    • Bespalov V.A., Djuzhev N.A., Makhiboroda M.A., Demin G.D.
    • в журнале Solid State Phenomena, с. 47-53
  • 
    • 2015 Spin-transfer torque and specific features of magnetic-state switching in vacuum tunnel nanostructures
    • Demin G.D., Popkov A.F., Dyuzhev N.A.
    • в журнале Semiconductors, издательство Springer (New York), том 49, № 13, с. 1679-1683

• Статьи в сборниках

  • 
    • 2022 Techniques for analyzing digital elevation models of surface topography of microelectronics objects
    • Dedkova A.A., Florinsky I.V/, Djuzhev N.A.
    • в сборнике International Conference on Micro- and Nano-Electronics 2021, серия Proceedings of SPIE, место издания SPIE, том 12157, с. 121571K DOI
  • 
    • 2021 Development of Adhesive Wafer Bonding Technology
    • Fomichev M.Y., Makhiboroda M.A., Djuzhev N.A., Dedkova A.A., Gusev E.E.
    • в сборнике Conference of Russian Young Researchers in Electrical and Electronic Engineering, ElConRus 2021, серия IEEE, с. 2558-2562 DOI
  • 
    • 2021 Experimental Study Mechanical Stresses and Strength in Multilayer PECVD SiO2
    • Gusev E.E., Tovarnov D.A., Dedkova A.A., Onufrienko A.P., Djuzhev N.A.
    • в сборнике Conference of Russian Young Researchers in Electrical and Electronic Engineering, ElConRus 2021, серия IEEE, с. 2437-2441 DOI
  • 
    • 2020 Investigation of Mechanical Strength of Membrane Structure Consisting of Al/SiO2/Al
    • Gusev E.E., Tovarnov D.A., Dedkova A.A., Djuzhev N.A.
    • в сборнике IEEE Conference of Russian Young Researchers in Electrical and Electronic Engineering, EIConRus 2020, серия IEEE, с. 2299-2302 DOI
  • • 2019 Investigation of the emission properties of a silicon blade-type cathode
    • Filippov S.V., Kolosko A.G., Popov E.O., Demin G.D., Makhiboroda M.A., Djuzhev N.A., Gryazneva T.A., Korotkov S.Y.
    • в сборнике Journal of Physics: Conference Series, издательство Institute of Physics Publishing. (Bristol, England), том 1400
  • • 2019 Maskless nanolithography on the basis of microfocus X-ray tubes: Conversion of electron energy into the BeKα line
    • Chkhalo N.I., Lopatin A.Ya, Pestov A.E., Salashchenko N.N., Demin G.D., Dyuzhev N.A., Makhiboroda M.A.
    • в сборнике Proceedings of SPIE, место издания SPIE, том 11022
  • • 2019 Microwave Energy Harvester Based on the Magneto-Tunnel Seebeck Effect in the Nanoscale Spin-Torque Diode
    • Demin G.D., Popkov A.F., Djuzhev N.A., Zvezdin K.A., Popov A.V.
    • в сборнике SAS 2019 - 2019 IEEE Sensors Applications Symposium, Conference Proceedings, издательство Institute of Electrical and Electronics Engineers (Piscataway, NJ, United States)
  • • 2019 Optimized Design of the MEMS-Based Three-Axis Thermal Accelerometer for Its Better Performance in a Wide Measurement Range
    • Ovodov A.I., Demin G.D., Djuzhev N.A., Makhiboroda M.A.
    • в сборнике SAS 2019 - 2019 IEEE Sensors Applications Symposium, Conference Proceedings, издательство Institute of Electrical and Electronics Engineers (Piscataway, NJ, United States)
  • • 2019 TCAD-based performance analysis of nanoscale vacuum field-emission transistors at advanced technology nodes
    • Evsikov I.D., Djuzhev N.A., Demin G.D., Makhiboroda M.A.
    • в сборнике Proceedings of SPIE, место издания SPIE, том 11022
  • 
    • 2018 An experimental study on MEMS-based gas flow sensor for wide range flow measurements
    • Djuzhev N.A., Novikov D.V., Demin G.D., Ovodov A.I., Ryabov V.T.
    • в сборнике SAS 2018 - Proceedings, издательство Institute of Electrical and Electronics Engineers (Piscataway, NJ, United States), с. 1-4
  • • 2018 An impact of thermal electron energy on the field-electron emission from nanosized silicon tips
    • Djuzhev N.A., Demin G.D., Glagolev P.Y., Makhiboroda M.A., Patyukov N.N.
    • в сборнике 31st International Vacuum Nanoelectronics Conference, место издания Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc, с. 8520046
  • 
    • 2018 Finite-element predictive 3D modelling and optimization of membrane-based thermoresistive MEMS accelerometers
    • Djuzhev N.A., Lapshin R.V., Belin A.M., Ovodov A.I., Novikov D.V., Demin G.D.
    • в сборнике Proceedings of the International Conference “Micro- and Nanoelectronics – 2018” (ICMNE-2018), место издания SPIE, том 11022, с. 94
  • 
    • 2018 Investigation of the concept of a miniature X-ray source based on nanoscale vacuum field-emission triode controlled by cut-off grid voltage
    • Djuzhev N.A., Demin G.D., Gryazneva T.A., Kireev V.Y., Novikov D.V.
    • в сборнике Proceedings of the 2018 IEEE Conference of Russian Young Researchers in Electrical and Electronic Engineering, ElConRus 2018, с. 1974-1978
  • • 2018 Non-destructive method of surface mapping to improve accuracy of mechanical stresses measurements
    • Djuzhev N.A., Gusev E.E., Dedkova A.A., Makhiboroda M.A.
    • в сборнике 6TH INTERNATIONAL CONFERENCE: MODERN TECHNOLOGIES FOR NON-DESTRUCTIVE TESTING, серия IOP Conference Series-Materials Science and Engineering, место издания IOP PUBLISHING LTD [Djuzhev, N. A.; Gusev, E. E.; Dedkova, A. A.] Natl Res Univ Elect Technol MIET, R&D Ctr MST & BEC, Moscow, Russia. [Makhiboroda, M. A.] Natl Res Univ Elect Technol MIET, NMST, Moscow, Russia, том 289 DOI
  • • 2017 Non-Contact Technique for Determining the Mechanical Stress in thin Films on Wafers by Profiler
    • Djuzhev N.A., Dedkova A.A., Gusev E.E., Makhiboroda M.A., Glagolev P.Y.
    • в сборнике 5TH INTERNATIONAL CONFERENCE: MODERN TECHNOLOGIES FOR NON-DESTRUCTIVE TESTING, серия IOP Conference Series-Materials Science and Engineering, место издания IOP PUBLISHING LTD [Djuzhev, N. A.] Natl Res Univ Elect Technol MIET, R&D Ctr MST & BEC, Moscow, Russia. [Dedkova, A. A.; Gusev, E. E.; Makhiboroda, M. A.; Glagolev, P. Y.] Natl Res Univ Elect Technol MIET, NMST, Moscow, Russia, том 189 DOI
  • • 2016 Compact HSPICE model of magnetic tunnel junction based on voltage-driven spin-transfer torque
    • Demin G.D., Gusev E.E., Popkov A.F., Stepanov P.A., Djuzhev N.A.
    • в сборнике SIBCON 2016 - Proceedings, издательство Institute of Electrical and Electronics Engineers (Piscataway, NJ, United States)
  • • 2016 Determination of mechanical stress in the silicon nitride films with a scanning electron microscope
    • Djuzhev N.A., Gusev E.E., Dedkova A.A., Patiukov N.
    • в сборнике INTERNATIONAL CONFERENCE ON MICRO- AND NANO-ELECTRONICS 2016, серия Proceedings of SPIE, место издания SPIE-INT SOC OPTICAL ENGINEERING [Djuzhev, N. A.; Gusev, E. E.; Dedkova, A. A.; Patiukov, N.] Natl Res Univ Elect Technol, Shokina Sq 1, Moscow 124498, Zelenograd, Russia, том 10224 DOI

• Доклады на конференциях

  • • 2022 Исследование изменения формы пластин и тонкопленочных мембран с использованием методов геоморфометрии (Стендовый)
    • Авторы: Дедкова А.А., Флоринский И.В., Дюжев Н.А.
    • XXVI Международный симпозиум «Нанофизика и наноэлектроника», НИжний Новгород, Россия, 14-18 марта 2022
  • • 2021 Analysis of digital elevation models of silicon wafers and wafer-based structures (Устный)
    • Авторы: Dedkova A., Florinsky I., Djuzhev N.
    • ICMNE-2021, г. Звенигород, РФ, Россия, 4-8 октября 2021
  • • 2021 Analysis of topography of silicon wafers and wafer-based structures by geomorphometric modeling (Устный)
    • Авторы: Dedkova A.A., Florinsky I.V., Djuzhev N.A.
    • Geomorphometry 2021, Perugia, Италия, 13-15 сентября 2021

• Тезисы докладов

  • • 2022 Исследование изменения формы пластин и тонкопленочных мембран с использованием методов геоморфометрии
    • Дедкова А.А., Флоринский И.В., Дюжев Н.А.
    • в сборнике Нанофизика и наноэлектроника: Труды XXVI Международного симпозиума, место издания Изд-во Нижегородского госуниверситета им. Н.И. Лобачевского Нижний Новгород, том 1, тезисы, с. 541-542
  • • 2021 Analysis of digital elevation models of silicon wafers and wafer-based structures
    • Dedkova A., Florinsky I., Djuzhev N.
    • в сборнике Proceedings of International Confernce "Micro- and Nanoelectronics - 2021" (ICMNE-2021): Book of abstracts, издательство ООО "МАКС Пресс" (Москва), тезисы, с. 142-142
    • редакторы Лукичев Владимир Федорович, Руденко Константин Васильевич
  • • 2021 Analysis of topography of silicon wafers and wafer-based structures by geomorphometric modeling
    • Dedkova A.A., Florinsky I.V., Djuzhev N.A.
    • в сборнике Proceedings of the Geomorphometry 2021 Conference, Perugia, Italy, 13–17 Sept. 2021, место издания Zenodo, тезисы, с. 1-4 DOI