Образование

Соавторы: Atac H., Battaglieri M., Bedlinskiy I., Biselli A.S., Briscoe W.J., Bulumulla D., Carman D.S., Chetry T., Ciullo G., Cole P.L., D'Angelo A., Dashyan N., Defurne M., Deur A., Diehl S., Djalali C., Dupre R., Filippi A., Gavalian G., Gothe R.W., Griffioen K.A., Hakobyan H., Hattawy M., Hayward T.B., Holtrop M., Ilieva Y., Ireland D.G., Jo H.S., Khanal A., Kim W., Kripko A., Lanza L., Leali M., Lenisa P., Marchand D., Mascagna V., McKinnon B., Migliorati S., Mirazita M., Munoz C., Neupane K., Niccolai S., Paolone M., Price J.W., Prok Y., Ripani M., Sabatié F., Schmidt A., Shrestha U., Sokhan D., Sparveris N., Strakovsky I.I., Tyson R., Ungaro M., Venturelli L., Voskanyan H., Voutier E., Wood M., Zachariou N., Бояринов С.Ю., Буркерт В., Голубенко А.А., Исупов Е.Л., Минеева Т.Н., Мокеев В.И., Осипенко М.В., Широков Е.В., Barion L., Benkel B., Contalbrigo M., De Vita R., El A.A., El F.L., Elouadrhiri L., Ghandilyan Y., Gilfoyle G.P., Hobart A., Kubarovsky V., MacGregor I.J., Nadel-Turonski P., Niculescu G., Pappalardo L.L., Paremuzyan R., Pasyuk E., Pilleux N., Poudel J., Ritman J., Salgado C., Simmerling P., Stepanyan S., Strauch S., Wishart R., Armstrong W.R., Baltzell N., Bashkanov M., Benmokhtar F., Celentano A., Chatagnon P., Costa G.D., Egiyan H., Fegan S.J., Heddle D., Joo K., Keller D., Livingston K., Phelps W., Pogorelko O., Reed T., Sharabian Y., Vallarino S., Watts D.P., Чесноков В.В., Amaryan M.J., Baashen L., Bianconi A., Biondo L., Brooks W.K., Capobianco R., Carvajal J.C., Costantino G., Kim A., Lagerquist V., Lee S., Nicol M., Pandey S., Pokhrel M., Raue B.A., Tan J.A., Zhao Z., Arratia M., Avakian H., Bueltmann S., Eugenio P., Glazier D.I., Gotra Y., Guidal M., Hafidi K., Hauenstein F., Khandaker M., Marsicano L., Meziani Z.E., Naidoo P., Rosner G., Schadmand S., Schumacher R.A., Zurek M., Ayerbe G.C., Bianconi A., Biondi M., Bondi M., Costantini G., Guida M., Johnston R., Khachatryan M., Klein F., Klimenko V.A., McLauchlin C., Montgomery R.A., Nguyen D., Ostrovidov A.I., Pandey P., Rossi P., Trotta N., Yale B., Ziegler V., Achenbach P., Adhikari K.P., Akbar Z., Bates D., Booth W.A., Brinkmann K.T., Clash G., Dilks C., Ehrhart M., Girod F.X., Jenkins D.L., Joosten S., Kabir M., Newton J., Ouillon M., Richards J., Rizzo F., Spreafico M., Vossen A., Wei K., Weinstein L.B., Williams R., Zhang J., Чесноков В.В., Alaoui A.E., Angelini G., Avagyan H., Benmokhtar F., Bondì M., Bossù F., Bossù F., Bossù F., Bossù F., Bossù F., Bossù F., Bossù F., Bossù F., Brinkman K.T., Brinkmann K.T., Brinkmann K.T., Brinkmann K.T., Bórquez A., CLARK L.V., Crede V., Fassi L.E., Fersch R., Forrest M., Gayoso C.A., Guo L., Hicks K., Hobara Y., Hollis G., Hyde C.E., J D.M., Kotzinian A., Kuhn S., Laget J.M., Li X, Li X, Li X, Li X, Li X, Mayer M., Mendez R., Milner R.G., Molina E., Morgan P., Morán S., Morán S., O'Connell T.R., Park K., Peck A., Po\ifmmode \checkc\else č\fiani\ifmmode \acutec\else ć.D., Pocanic D., ROWLEY J.T., Reed T., Reid T.C., Richards J.L., Rizzo A., Soto O., Tian Y., Turisini M., Tyler N., Vita R.D., Wei K., Yurov M., Zhang J., Zhang J., Барон Л.И., Ким А.Д., Кун К.Е. Показать ещё Скрыть