Образование

Соавторы: Atac H., Battaglieri M., Bedlinskiy I., Benkel B., Biselli A.S., Briscoe W.J., Bulumulla D., Carman D.S., Celentano A., Chetry T., Ciullo G., Cole P.L., Contalbrigo M., Defurne M., Sokhan D., Бояринов С.Ю., Буркерт В., Чесноков В.В., Amaryan M.J., Avakian H., Barion L., Benmokhtar F., Carvajal J.C., Chatagnon P., Baashen L., Baltzell N., Bashkanov M., Bianconi A., Biondi M., Clash G., Achenbach P., Akbar Z., Booth W.A., Costantini G., Gayoso C.A., D'Angelo A., Dashyan N., De Vita R., Deur A., Diehl S., Djalali C., Dupre R., El A.A., El F.L., Elouadrhiri L., Fegan S.J., Filippi A., Gavalian G., Gothe R.W., Griffioen K.A., Hakobyan H., Hattawy M., Hayward T.B., Hobart A., Holtrop M., Ilieva Y., Ireland D.G., Jo H.S., Joo K., Khanal A., Kim W., Kripko A., Kubarovsky V., Lanza L., Leali M., Lenisa P., Marchand D., Mascagna V., McKinnon B., Migliorati S., Mirazita M., Munoz C., Nadel-Turonski P., Neupane K., Niccolai S., Paolone M., Pappalardo L.L., Paremuzyan R., Pasyuk E., Paul S.J., Pilleux N., Price J.W., Prok Y., Ripani M., Ritman J., Sabatié F., Salgado C., Schmidt A., Shrestha U., Simmerling P., Sparveris N., Stepanyan S., Strakovsky I.I., Tyson R., Ungaro M., Venturelli L., Voskanyan H., Voutier E., Watts D.P., Wood M., Zachariou N., Голубенко А.А., Исупов Е.Л., Минеева Т.Н., Мокеев В.И., Осипенко М.В., Широков Е.В., Armstrong W.R., Ayerbe G.C., Capobianco R., Costa G.D., Costantino G., Egiyan H., Ghandilyan Y., Gilfoyle G.P., Glazier D.I., Gotra Y., Keller D., Kim A., Lagerquist V., Lee S., Livingston K., MacGregor I.J., Montgomery R.A., Naidoo P., Nicol M., Niculescu G., Pandey S., Phelps W., Pogorelko O., Poudel J., Reed T., Rossi P., Sharabian Y., Strauch S., Vallarino S., Wishart R., Bianconi A., Biondo L., Christiaens G., Ehrhart M., Girod F.X., Guidal M., Hafidi K., Hauenstein F., Heddle D., Khachatryan M., Klimenko V.A., Marsicano L., Newton J., Pokhrel M., Raue B.A., Schadmand S., Tan J.A., Trotta N., Yale B., Zhao Z., Zurek M., Adhikari K.P., Avagyan H., Bates D., Bondi M., Bondì M., Bossù F., Bossù F., Bossù F., Bossù F., Bossù F., Bossù F., Bossù F., Bossù F., Bossù F., Bossù F., Brinkman K.T., Brinkmann K.T., Brinkmann K.T., Brinkmann K.T., Brinkmann K.T., Brinkmann K.T., Brinkmann K.T., Brinkmann K.T., Brinkmann K.T., Brooks W.K., CLARK L.V., Christiaens G., Christiaens G., Christiaens G., Christiaens G., Crede V., Dilks C., Eugenio P., Forrest M., Guida M., Hollis G., Hyde C.E., J D.M., Jenkins D.L., Johnston R., Joosten S., Kabir M., Khandaker M., Klein F., Kotzinian A., Kuhn S., Laget J.M., Li X, Li X, Mayer M., Meziani Z.E., Molina E., Nguyen D., Ouillon M., Pandey P., Park K., Po\ifmmode \checkc\else č\fiani\ifmmode \acutec\else ć.D., Reid T.C., Richards J., Richards J.L., Rizzo A., Rizzo F., Rosner G., Schumacher R.A., Spreafico M., Tian Y., Turisini M., Tyler N., Vossen A., Wei K., Wei K., Williams R., Zhang J., Zhang J., Zhang J., Ziegler V., Барон Л.И., Ким А.Д. Показать ещё Скрыть