Образование

Соавторы: Kalashev O.E., Kharuk I., Ogio S., Жежер Я.В., Пширков М.С., Рубцов Г.И., Троицкий С.В., Abbasi R.U., Abu-Zayyad T., Kido E., Lubsandorzhiev B.K., Lundquist J.P., Tinyakov P.G., Tkachev I.I., Urban F.R., Abbasi R., Abe Y., Abu-Zayyad T., Allen M., Allen M., Arai Y., Arimura R., Barcikowski E., Barcikowski E., Belz J., Bergman D., Bergmann D., Blake S., Cady R., Cheon B., Chiba J., Chikawa M., Fedynitch A., Fujii T., Fujisue K., Fujita K., Fujiwara R., Fukushima M., Fukushima M., Fukushima R., Gonzalez R., Hanlon W., Hanlon W., Hayashi M., Hayashida N., Hibi R., Hibino K., Higuchi R., Honda K., Ikeda D., Inadomi T., Inoue N., Ishii T., Iwakura H., Iwasaki A., Jeong H., Jui C., Kadota K., Kadota K., Kakimoto F., Kasahara K., Kasami S., Kawai H., Kawakami S., Kawana S., Kawata K., Kido E., Kim H., Kim J., Kim M.H., Kim S.W., Kimura Y., Kishigami S., Krehbiel P.R., Kubota Y., Kurisu S., Kusumori Y., Kwon Y., Lee K., Lubsandorzhiev B.P., Machida K., Matsumiya H., Matsuyama T., Matthews J., Mayta R., Minamino M., Miyashita K., Mizuno K., Mukai K., Myers I., Nakai K., Nakamura R., Nakamura T., Nakamura T., Nakamura Y., Nakazawa A., Nishio E., Nonaka T., OZAWA S., Oda H., Ohnishi M., Ohoka H., Okazaki N., Oku Y., Okuda T., Omura Y., Ono M., Onogi R., Oshima A., Park I.H., Petrizze A., Potts M., Potts M., Remington J., Rison W., Rodeheffer D., Rodriguez D., Ryu D., Sagawa H., Sagawa H., Sahara R., Saito Y., Sakaki N., Sako T., Sakurai N., Sano K., Sato K., Seki T., Sekino K., Shah P., Shibasaki Y., Shibata F., Shibata N., Shibata T., Shimodaira H., Shin B., Shin H., Shinto D., Smith J., Smout K., Sokolsky P., Sone N., Stanley M.A., Stokes B., Stroman T., Takagi Y., Takahashi Y., Takamura M., Takeda M., Takeishi R., Taketa A., Takita M., Tameda Y., Tanaka H., Tanaka M., Tanoue Y., Thomas S., Thompson G., Thomson G., Tinyakov P., Tokuno H., Tomida T., Tsuda R., Tsunesada Y., Udo S., Uehama T., Urban F., Wong T., Yada K., Yamamoto M., Yamazaki K., Yang J., Yashiro K., Yoshida F., Yoshioka T., Zundel Z., da Silva D.R., Вайман И.А., Ткачев И.И., Шино Д.Н. Показать ещё Скрыть