Основные исследования сфокусированы на эпитаксиальных пленках функциональных оксидов, таких как перовскит SrIrO3, слоистый сложный оксид Sr2IrO4 и LSMO, синтезированных методами импульсного лазерного осаждения и высокочастотного катодного распыления на подложках NdGaO3 и SrTiO3.

Особое внимание уделяется структурным исследованиям пленок с применением рентгеновской дифрактометрии для анализа кристаллической структуры, дефектов и упругих деформаций. Другим важным направлением является изучение механизмов электронного транспорта в тонкопленочных оксидных диэлектриках и металлах, а также установление корреляций между структурными параметрами, составом и функциональными свойствами для будущих перспективных применений в области микро/наноэлектроники и спинтроники.

Ключевые слова: транспорт электронов; иридат стронция; физика полупроводниковых приборов; тонкие пленки; спин-орбитальное взаимодействие; физика конденсированного состояния; анализ XRD; Эпитаксиальные тонкие пленки; нанотехнологии / спин-орбитальное взаимодействие; транспорт электронов; иридат стронция; физика полупроводниковых приборов; тонкие пленки; нанотехнологии; физика конденсированного состояния; Эпитаксиальные тонкие пленки; анализ XRD