Выберите категорию обращения:
Общие вопросы
Отчеты
Рейтинги
Мониторинговый отчёт
Диссертационные советы
Конкурсы
Ввод данных
Структура организаций
Аспирантура
Научное оборудование
Импорт педагогической нагрузки
Журналы и импакт-факторы
Тема обращения:
Описание проблемы:
Введите почтовый адрес:
ИСТИНА
Войти в систему
Регистрация
ИПМех РАН
Главная
Поиск
Статистика
О проекте
Помощь
В связи с техническими работами в центре обработки данных, часть прикреплённых файлов в настоящее время недоступна.
скрыть
Кожевников И.В.
Соавторы:
Асадчиков В.Е.
,
Волков Ю.О.
,
Рощин Б.С.
,
Каневский В.М.
,
Тихонов А.М.
,
Якимчук И.В.
,
Dembo K.A.
,
Filatova E.O.
,
Frolov D.A.
,
Politov V.Y.
,
Yakimchuk I.V.
,
Ангелуц А.А.
,
Андреев А.В.
показать полностью...
,
Буташин А.В.
,
Васильев А.Б.
,
Волков В.В.
,
Дембо К.А.
,
Денисов А.В.
,
Дерябин А.Н.
,
Евдокимов М.Г.
,
Занавескин М.Л.
,
Коновко А.А.
,
Кривоносов Ю.С.
,
Муслимов А.Э.
,
Муслимов А.Э.
,
Новоселова Е.Г.
,
Политов В.Ю.
,
Прудников И.Р.
,
Рябов А.Ю.
,
Сапожников Д.А.
,
Семенов В.Б.
,
Смирнов И.С.
,
Тихонов Е.О.
,
Усенов И.Е.
,
Филатова Е.О.
,
Фролов Д.А.
,
Шкуринов А.П.
7 статей
,
2 доклада на конференциях
,
2 тезисов докладов
Количество цитирований статей в журналах по данным Web of Science: 25, Scopus: 28
IstinaResearcherID (IRID): 7498480
Деятельность
Статьи в журналах
2013
Ellipsoidal concentrators for laboratory X-ray sources: Analytical approach for optimization
Yakimchuk I.V.
,
Kozhevnikov I.V.
,
Politov V.Yu
,
Asadchikov V.E.
в журнале
Crystallography Reports
, издательство
Maik Nauka/Interperiodica Publishing
(Russian Federation)
, том 58, № 2, с. 355-364
DOI
2013
Model approach to solving the inverse problem of X-ray reflectometry and its application to the study of the internal structure of hafnium oxide films
Volkov Yu O.
,
Kozhevnikov I.V.
,
Roshchin B.S.
,
Filatova E.O.
,
Asadchikov V.E.
в журнале
Crystallography Reports
, издательство
Maik Nauka/Interperiodica Publishing
(Russian Federation)
, том 58, № 1, с. 160-167
DOI
2013
Модельный подход к решению обратной задачи рентгеновской рефлектометрии и его применение для исследования внутренней структуры пленок оксида гафния
Волков Ю.О.
,
Кожевников И.В.
,
Рощин Б.С.
,
Филатова Е.О.
,
Асадчиков В.Е.
в журнале
Кристаллография
, издательство
ФГУП Издательство «Наука»
(Москва)
, том 58, № 1, с. 146-154
2013
Эллипсоидальные концентраторы для лабораторных рентгеновских источников: аналитический подход к оптимизации
Якимчук И.В.
,
Кожевников И.В.
,
Политов В.Ю.
,
Асадчиков В.Е.
в журнале
Кристаллография
, издательство
ФГУП Издательство «Наука»
(Москва)
, № 58, с. 337-347
2012
Анализ наношероховатости поверхностей методами рентгеновского рассеяния и атомно-силовой микроскопии
Асадчиков В.Е.
,
Кожевников И.В.
,
Рощин Б.С.
,
Волков Ю.О.
,
Муслимов А.Э.
,
Каневский В.М.
,
Занавескин М.Л.
в журнале
Мир измерений
, издательство
Стандарты и качество
(М.)
, том 7, № 137, с. 11-17
2011
Condensation of silica nanoparticles on a phospholipid membrane
Asadchikov V.E.
, Volkov V.V.,
Volkov Yu O.
,
Dembo K.A.
,
Kozhevnikov I.V.
,
Roshchin B.S.
,
Frolov D.A.
,
Tikhonov A.M.
в журнале
JETP Letters
, издательство
Maik Nauka/Interperiodica Publishing
(Russian Federation)
, том 94, № 7, с. 585-587
DOI
2011
Конденсация наночастиц кремнезема на фосфолипидной мембране
Асадчиков В.Е.
,
Волков В.В.
,
Волков Ю.О.
,
Дембо К.А.
,
Кожевников И.В.
,
Рощин Б.С.
,
Фролов Д.А.
, Тихонов А.М.
в журнале
Письма в "Журнал экспериментальной и теоретической физики"
, том 94, с. 625-628
Доклады на конференциях
2014
Laboratory GISAXS for surface roughness control of crystalline and amorphous superpolished parts
Авторы:
Asadchikov V.E.
,
Kozhevnikov I.V.
,
Roshchin B.S.
,
Volkov Yu O.
Meeting "Sapphire ultraoptics for synchrotron radiation". Helmholtz-Russia.
, Moscow, Россия, 2014
2009
Получение, исследование и испытание дифракционных решеток металлических нанопроводов на структурированной поверхности монокристаллического лейкосапфира
(Устный)
Авторы:
Асадчиков В.Е.
,
Васильев А.Б.
,
Волков Ю.О.
,
Денисов А.В.
,
Дерябин А.Н.
,
Каневский В.М.
,
Кожевников И.В.
,
Кривоносов Ю.С.
,
Муслимов А.Э.
,
Рощин Б.С.
,
Семенов В.Б.
,
Тихонов Е.О.
,
Якимчук И.В.
,
Андреев А.В.
,
Ангелуц А.А.
,
Коновко А.А.
,
Прудников И.Р.
,
Сапожников Д.А.
,
Шкуринов А.П.
,
Усенов И.Е.
,
Евдокимов М.Г.
,
Рябов А.Ю.
,
Новоселова Е.Г.
,
Смирнов И.С.
,
Буташин А.В.
VII национальная конференция «Рентгеновское, Синхротронное излучения, Нейтроны и Электроны для исследования наносистем и материалов Нано-Био-Инфо-Когнитивные технологии РСНЭ-НБИК-2009»
, Москва, Россия, Россия, 16-21 ноября 2009
Тезисы докладов
2016
Structural parameters of macroscopically flat lipid multilayers on a silica sol substrates
Volkov Yu
,
Tikhonov A.
,
Kozhevnikov I.
,
Roshchin B.
,
Asadchikov V.
в сборнике
Book of Abstracts (Synchrotron and Free electron laser Radiation: generation and application (SFR-2016))
, место издания
ИЯФ им. Г.И. Будкера СО РАН Новосибирск, 630090, пр. Академика Лаврентьева
, тезисы, с. 26-27
2009
Получение, исследование и испытание дифракционных решеток металлических нанопроводов на структурированной поверхности монокристаллического лейкосапфира
Асадчиков В.Е.
,
Буташин А.В.
,
Васильев А.Б.
,
Волков Ю.О.
,
Денисов А.В.
,
Дерябин А.Н.
,
Каневский В.М.
,
Кожевников И.В.
,
Кривоносов Ю.С.
,
Муслимов А.Э.
,
Рощин Б.С.
,
Семенов В.Б.
,
Тихонов Е.О.
,
Якимчук И.В.
,
Андреев А.В.
,
Ангелуц А.А.
,
Коновко А.А.
,
Прудников И.Р.
,
Сапожников Д.А.
,
Шкуринов А.П.
,
Усенов И.Е.
,
Евдокимов М.Г.
,
Рябов А.Ю.
,
Новоселова Е.Г.
,
Смирнов И.С.
в сборнике
VII Национальная конференция Рентгеновское, Синхротронное излучения, Нейтроны и Электроны для исследования наносистем и материалов. Нано-Био-Инфо-Когнитивные технологии (РСНЭ-НБИК-2009)
, место издания
Москва
, тезисы, с. 121-121