|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИПМех РАН |
||
Материалы II Международной научной школы-семинара ”Современные методы анализа дифракционных данных (дифракционные методы для нанотехнологии” (Великий Новгород, 1-5 сентября 2008 г.). 2008. С. 103-106сборник
- Год издания: 2008
- Место издания: Великий Новгород
- Сборник тезисов
- Добавил в систему: Бушуев Владимир Алексеевич
Статьи, опубликованные в сборнике
-
- 2008 Характеризация микронных пористых слоёв кремния по данным рентгеновской дифрактометрии
- Карцев А.А., Ломов А.А., Бушуев В.А., Караванский А.В., Васильев А.Л.
- в сборнике Материалы II Международной научной школы-семинара ”Современные методы анализа дифракционных данных (дифракционные методы для нанотехнологии” (Великий Новгород, 1-5 сентября 2008 г.). 2008. С. 103-106, место издания Великий Новгород, тезисы, с. 103-106
-
- 2008 Характеризация микронных пористых слоёв кремния по данным рентгеновской дифрактометрии
- Карцев А.А., Ломов А.А., Бушуев В.А., Караванский А.В., Васильев А.Л.
- в сборнике Материалы II Международной научной школы-семинара ”Современные методы анализа дифракционных данных (дифракционные методы для нанотехнологии” (Великий Новгород, 1-5 сентября 2008 г.). 2008. С. 103-106, место издания Великий Новгород, тезисы, с. 103-106