Труды X всероссийской школы-семинара студентов, аспирантов и молодых учёных по напрвлению "Диагностика наноматериалов и наноструктур"сборник

Статьи, опубликованные в сборнике

---

• • 2018 Исследование профилей распределения имплантированных кластеров алюминия Aln методом ToF-SIMS
  • Данилов А.В.
  • в сборнике Труды X всероссийской школы-семинара студентов, аспирантов и молодых учёных по напрвлению "Диагностика наноматериалов и наноструктур", тезисы