Выберите категорию обращения:
Общие вопросы
Отчеты
Рейтинги
Мониторинговый отчёт
Диссертационные советы
Конкурсы
Ввод данных
Структура организаций
Аспирантура
Научное оборудование
Импорт педагогической нагрузки
Журналы и импакт-факторы
Тема обращения:
Описание проблемы:
Введите почтовый адрес:
ИСТИНА
Войти в систему
Регистрация
ИПМех РАН
Главная
Поиск
Статистика
О проекте
Помощь
XXVIII Российская конференция по электронной микроскопии Современные методы электронной, зондовой микроскопии и комплементарные методы в исследованиях наноструктур и наноматериалов. 5-10 сентября 2020 г. Черноголовка, Россия
сборник
Год издания:
2020
Том:
2
ISBN:
978-5-6045073-2-2
Сборник тезисов
Добавил в систему:
Скупов Кирилл Михайлович
Статьи, опубликованные в сборнике
2020
Влияние термической обработки на морфологию Pt/УНВ
Суфиянова А.Э.
,
Жигалина О.М.
,
Басу В.Г.
,
Пономарев И.И.
,
Скупов К.М.
,
Пономарев И.И.
,
Разоренов Д.Ю.
в сборнике
XXVIII Российская конференция по электронной микроскопии Современные методы электронной, зондовой микроскопии и комплементарные методы в исследованиях наноструктур и наноматериалов. 5-10 сентября 2020 г. Черноголовка, Россия
, том 2, тезисы, с. 46-47
DOI