|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИПМех РАН |
||
Тех. докл. на Симпоз. по методам подготовки сложных объектов и анал. электр. микр. изображенийсборник
- Год издания: 1976
- Сборник тезисов
- Добавил в систему: Пытьев Юрий Петрович
Статьи, опубликованные в сборнике
-
- 1976 Выявление дефектов интегральных схем методами морфологического анализа электронномикроскопических изображений
- Пытьев Ю.П., Терентьев Е.Н., Задорожный С.С., Лукьянов А.Е., Спивак Г.В.
- в сборнике Тех. докл. на Симпоз. по методам подготовки сложных объектов и анал. электр. микр. изображений, тезисы