Выберите категорию обращения:
Общие вопросы
Отчеты
Рейтинги
Мониторинговый отчёт
Диссертационные советы
Конкурсы
Ввод данных
Структура организаций
Аспирантура
Научное оборудование
Импорт педагогической нагрузки
Журналы и импакт-факторы
Тема обращения:
Описание проблемы:
Введите почтовый адрес:
ИСТИНА
Войти в систему
Регистрация
ИПМех РАН
Главная
Поиск
Статистика
О проекте
Помощь
Тех. докл. на Симпоз. по методам подготовки сложных объектов и анал. электр. микр. изображений
сборник
Год издания:
1976
Сборник тезисов
Добавил в систему:
Пытьев Юрий Петрович
Статьи, опубликованные в сборнике
1976
Выявление дефектов интегральных схем методами морфологического анализа электронномикроскопических изображений
Пытьев Ю.П.
,
Терентьев Е.Н.
,
Задорожный С.С.
,
Лукьянов А.Е.
,
Спивак Г.В.
в сборнике
Тех. докл. на Симпоз. по методам подготовки сложных объектов и анал. электр. микр. изображений
, тезисы