Выберите категорию обращения:
Общие вопросы
Отчеты
Рейтинги
Мониторинговый отчёт
Диссертационные советы
Конкурсы
Ввод данных
Структура организаций
Аспирантура
Научное оборудование
Импорт педагогической нагрузки
Журналы и импакт-факторы
Тема обращения:
Описание проблемы:
Введите почтовый адрес:
ИСТИНА
Войти в систему
Регистрация
ИПМех РАН
Главная
Поиск
Статистика
О проекте
Помощь
Материалы Первой всероссийской научно-технической конференции "Метрология в нанотехнологиях"
сборник
Год издания:
2014
Место издания:
Москва
Сборник тезисов
Добавил в систему:
Биленко Игорь Антонович
Статьи, опубликованные в сборнике
2014
Установка для комплексной оптической диагностики покрытий
Лясковский В.Л.
,
Биленко И.А.
в сборнике
Материалы Первой всероссийской научно-технической конференции "Метрология в нанотехнологиях"
, место издания
Москва
, тезисы, с. 31-34