Abstr. 5th Biennial Conference on High Resolution X-Ray Diffraction and Topography “XTOP-2000”сборник
-
Год издания:
2000
-
Место издания:
Ustron-Jaszowiec, Poland
-
Сборник тезисов
-
Добавил в систему:
Орешко Алексей Павлович
Статьи, опубликованные в сборнике
-
-
-
-
2000
X-ray study of SiC surface and bonding interface in compositions SiC/Si
-
Argunova T.S.,
Grekhov I.V.,
Kostina L.S.,
Tur'yanskii A.G.,
Pirshin L.V.,
Prudnikov I.R.,
Kim E.D.,
Kim S.C.,
Kim N.K.
-
в сборнике Abstr. 5th Biennial Conference on High Resolution X-Ray Diffraction and Topography “XTOP-2000”, место издания Ustron-Jaszowiec, Poland, тезисы, с. P2. 2-P2. 2