Выберите категорию обращения:
Общие вопросы
Отчеты
Рейтинги
Мониторинговый отчёт
Диссертационные советы
Конкурсы
Ввод данных
Структура организаций
Аспирантура
Научное оборудование
Импорт педагогической нагрузки
Журналы и импакт-факторы
Тема обращения:
Описание проблемы:
Введите почтовый адрес:
ИСТИНА
Войти в систему
Регистрация
ИПМех РАН
Главная
Поиск
Статистика
О проекте
Помощь
Анализ наношероховатости поверхностей методами рентгеновского рассеяния и атомно-силовой микроскопии
статья
Авторы:
Асадчиков В.Е.
,
Кожевников И.В.
,
Рощин Б.С.
,
Волков Ю.О.
,
Муслимов А.Э.
,
Каневский В.М.
,
Занавескин М.Л.
Журнал:
Мир измерений
Том:
7
Номер:
137
Год издания:
2012
Издательство:
Стандарты и качество
Местоположение издательства:
М.
Первая страница:
11
Последняя страница:
17
Добавил в систему:
Асадчиков Виктор Евгеньевич