Выберите категорию обращения:
Общие вопросы
Отчеты
Рейтинги
Мониторинговый отчёт
Диссертационные советы
Конкурсы
Ввод данных
Структура организаций
Аспирантура
Научное оборудование
Импорт педагогической нагрузки
Журналы и импакт-факторы
Тема обращения:
Описание проблемы:
Введите почтовый адрес:
ИСТИНА
Войти в систему
Регистрация
ИПМех РАН
Главная
Поиск
Статистика
О проекте
Помощь
Analysis of topography of silicon wafers and wafer-based structures by geomorphometric modeling
тезисы доклада
Дата последнего поиска статьи во внешних источниках: 26 января 2022 г.
Авторы:
Dedkova A.A.
,
Florinsky I.V.
,
Djuzhev N.A.
Сборник:
Proceedings of the Geomorphometry 2021 Conference, Perugia, Italy, 13–17 Sept. 2021
Тезисы
Год издания:
2021
Место издания:
Zenodo
Первая страница:
1
Последняя страница:
4
DOI:
10.5281/ZENODO.5295613
Добавил в систему:
Флоринский Игорь Васильевич