Выберите категорию обращения:
Общие вопросы
Отчеты
Рейтинги
Мониторинговый отчёт
Диссертационные советы
Конкурсы
Ввод данных
Структура организаций
Аспирантура
Научное оборудование
Импорт педагогической нагрузки
Журналы и импакт-факторы
Тема обращения:
Описание проблемы:
Введите почтовый адрес:
ИСТИНА
Войти в систему
Регистрация
ИПМех РАН
Главная
Поиск
Статистика
О проекте
Помощь
В связи с техническими работами в центре обработки данных, часть прикреплённых файлов в настоящее время недоступна.
скрыть
Дицман С.А.
Соавторы:
Рау Э.И.
,
Сеннов Р.А.
,
Гостев А.В.
,
Зайцев С.В.
,
Орликовский Н.А.
,
Евстафьева
,
Купреенко С.Ю.
,
Лукьянов А. .
,
Лукьянов Ф.А.
,
Buzynin A.N.
,
Orlikovskiy N.A.
,
Евстафьева Е.Н.
,
ЗАБРОДСКИЙ В.В.
показать полностью...
,
Забродская Н.С.
,
Мельник В.Н.
,
Милеев В.Н.
,
Новиков Л.С.
,
Юрковец Д.И.
,
Adhikari S.
,
Alaoui A.E.
,
Amaryan M.J.
,
Angelini G.
,
Ashkenazi A.
,
Atac H.
,
Battaglieri M.
,
Beck A.
,
Beck S.M.
,
Bedlinskiy I.
,
Benmokhtar F.
,
Betancourt M.
,
Bianconi A.
,
Biselli A.S.
,
Bossu F.
,
Briscoe W.J.
,
Bulumulla D.
,
Byler N.
,
CLARK L.V.
,
Camacho C.M.
,
Carman D.S.
,
Carvajal J.C.
,
Celentano A.
,
Chatagnon P.
,
Chetry T.
,
Ciullo G.
,
Clary B.A.
,
Cohen E.O.
,
Cole P.L.
,
Coloma P.
,
Contalbrigo M.
,
Crede V.
,
Cruz-Torres R.
,
Dashyan N.
,
Defurne M.
,
Denniston A.
,
Deur A.
,
Djalali C.
,
Dolan S.
,
Duer M.
,
Dupre R.
,
D’Angelo A.
,
Egiyan H.
,
Ehrhart M.
,
Elouadrhiri L.
,
Eugenio P.
,
Fassi L.E.
,
Forrest M.
,
Gardiner S.
,
Gavalian G.
,
Gilfoyle G.P.
,
Giovanetti K.L.
,
Girod F.X.
,
Gothe R.W.
,
Griffioen K.A.
,
Guida M.
,
Guo X.L.
,
Hakobyan H.
,
Hattawy M.
,
Hauenstein F.
,
Hayward T.B.
,
Heddle D.
,
Hen O.
,
Hicks K.
,
Hobara Y.
,
Holtrop M.
,
Hrnjic A.
,
Ireland D.G.
,
Jo H.S.
,
Joo K.
,
Khachatryan M.
,
Khandaker M.
,
Korover I.
,
Kubarovsky V.
,
Leali M.
,
Lenisa P.
,
Lim W.
,
Livingston K.
,
MacGregor I.J.
,
Mahn K.
,
Marchand D.
,
Marsicano L.
,
Mascagna V.
,
McKinnon B.
,
Megias G.D.
,
Mirazita M.
,
Nadel-Turonski P.
,
Nambrath A.
,
Niccolai S.
,
Niculescu G.
,
Osipenko M.
,
Ostrovidov A.I.
,
Pak K.
,
Paolone M.
,
Papadopoulou A.
,
Pappalardo L.L.
,
Paremuzyan R.
,
Pasyuk E.
,
Piasetzky E.
,
Pogorelko O.
,
Poudel J.
,
Prof Y.M.
,
Protopopescu D.
,
Pybus J.
,
Raue B.A.
,
Riehl S.
,
Ripani M.
,
Ritman J.
,
Rizzo F.
,
Rosner G.
,
Rossi P.
,
Sabati F.
,
Salgado C.
,
Schmidt A.
,
Schumacher R.A.
,
Segarra E.P.
,
Sharabian Y.
,
Shrestha U.
,
Sokhan D.
,
Soto O.
,
Sparveris N.
,
Stepanyan S.
,
Steve T.
,
Strakovsky I.I.
,
Strauch S.
,
Tyson R.
,
Ungaro M.
,
Venturelli L.
,
Voskanyan H.
,
Voutier E.
,
Watts J.
,
Wood M.
,
Zachariou N.
,
Zhang J.
,
Zhao Z.
,
wei x.0.
,
Алиева Т.К.
,
Барон Л.И.
,
Бояринов С.Ю.
,
Буркерт В.
,
Вайнштейн Ю.А.
,
Головач Е.Н.
,
Дюков В.Г.
,
Золотарев В.И.
,
Исупов Е.Л.
,
Ишханов Б.С.
,
Келлер Д.С.
,
Ким Ч.Ы.
,
Кун К.Е.
,
Ланда Л.Н.
,
Марков Н.С.
,
Минеева Т.Н.
,
Мовсесян А.К.
,
Мокеев В.И.
,
Рогов О.А.
,
Рогов О.А.
,
Родэ С.В.
,
Скородумина Ю.А.
,
Соколов В.Н.
,
Субан А.В.
,
Татаринцев А.А.
,
Толстов И.О.
,
Филиппов А.В.
,
Хана Аль М.
,
Чесноков В.В.
15 статей
,
4 доклада на конференциях
,
10 тезисов докладов
Количество цитирований статей в журналах по данным Scopus: 23
IstinaResearcherID (IRID): 1080967
Деятельность
Статьи в журналах
2021
Electron-beam energy reconstruction for neutrino oscillation measurements
Khachatryan M.
,
Papadopoulou A.
,
Ashkenazi A.
,
Hauenstein F.
,
Nambrath A.
,
Hrnjic A.
,
Weinstein L.B.
,
Hen O.
,
Piasetzky E.
,
Betancourt M.
,
Dytman S.
,
Mahn K.
,
Coloma P.
,
Adhikari S.
,
Amaryan M.J.
,
Angelini Giovanni
,
Atac H.
,
Barion L.
,
Battaglieri M.
,
Bedlinskiy I.
,
Beck A.
,
Benmokhtar F.
,
Bianconi A.
,
Biselli A.S.
,
Bossu F.
,
Boiarinov S.
,
Briscoe W.J.
, Brooks W.K.,
Bulumulla D.
,
Burkert V.D.
,
Carman D.S.
,
Carvajal J.C.
,
Celentano A.
,
Chatagnon P.
,
Chesnokov V.
,
Chetry T.
,
Ciullo G.
,
Clark L.
,
Clary B.A.
,
Cohen E.O.
,
Cole P.L.
,
Contalbrigo M.
,
Crede V.
,
Cruz-Torres R.
,
D’Angelo A.
,
Dashyan N.
,
Vita R.De
,
Defurne M.
,
Denniston A.
,
Deur A.
,
Diehl S.
,
Djalali C.
,
Duer M.
,
Dupre R.
,
Egiyan H.
,
Ehrhart M.
,
Alaoui A.El
,
Fassi L.El
,
Elouadrhiri L.
,
Eugenio P.
,
Fersch R.
,
Filippi A.
,
Forest T.A.
,
Gavalian G.
,
Gilfoyle G.P.
,
Giovanetti K.L.
,
Girod F.X.
, Glazier D.I.,
Golovatch E.
,
Gothe R.W.
,
Griffioen K.A.
,
Guidal M.
,
Guo L.
,
Hakobyan H.
,
Hattawy M.
,
Hayward T.B.
,
Heddle D.
,
Hicks K.
,
Hobart A.
,
Holtrop M.
,
Ilieva Y.
,
Ireland D.G.
,
Ishkhanov B.S.
,
Isupov E.L.
,
Jo H.S.
,
Joo K.
,
Keller D.
,
Khanal A.
,
Khandaker M.
,
Kim C.W.
,
Kim W.
,
Korover I.
,
Kubarovsky V.
,
Kuhn S.E.
,
Lanza L.
,
Leali M.
,
Lenisa P.
,
Livingston K.
,
MacGregor I.J.D
,
Marchand D.
,
Markov N.
,
Marsicano L.
,
Mascagna V.
,
McKinnon B.
,
Beck S.May-Tal
,
Mineeva T.
,
Mirazita M.
,
Mokeev V.
,
Movsisyan A.
,
Camacho C.Munoz
,
Nadel-Turonski P.
,
Neupane K.
,
Niccolai S.
,
Niculescu G.
,
Osipenko M.
,
Ostrovidov A.I.
,
Paolone M.
,
Pappalardo L.L.
,
Paremuzyan R.
,
Park K.
,
Pasyuk E.
,
Pogorelko O.
,
Poudel J.
,
Prok Y.
,
Protopopescu D.
,
Pybus J.
,
Ripani M.
,
Raue B.
,
Ritman J.
,
Rizzo A.
,
Rosner G.
,
Rossi P.
,
Sabati F.
,
Salgado C.
,
Schmidt A.
,
Schumacher R.A.
,
Segarra E.P.
,
Sharabian Y.G.
,
Shrestha U.
,
Skorodumina Iu
,
Sokhan D.
,
Soto O.
,
Sparveris N.
,
Stepanyan S.
,
Strakovsky I.I.
,
Strauch S.
,
Tyler N.
,
Tyson R.
,
Ungaro M.
,
Venturelli L.
,
Voskanyan H.
,
Voutier E.
,
Watts D.
,
Wei X.
,
Wood M.H.
,
Zachariou N.
,
Zhang J.
,
Zhao Z.W.
,
Dolan S.
,
Megias G.D.
,
Gardiner S.
в журнале
Nature
, издательство
Nature Publishing Group
(United Kingdom)
, том 599, № 7886, с. 565-570
DOI
2013
Analysis of Formulas for Calculating the Main Characteristics of Backscattered Electrons and How They Compare to Experimental Results
Rau E.I.
,
Ditsman S.A.
,
Zaitsev S.V.
, Lermontov N.V.,
Luk’yanov A.E.
,
Kupreenko S.Yu
в журнале
Bulletin of the Russian Academy of Sciences: Physics
, издательство
Allerton Press Inc.
(United States)
, том 77, № 8, с. 951-958
DOI
2013
Анализ формул для расчета основных характеристик отраженных электронов и сравнение с экспериментальными результатами
Рау Э.И.
,
Дицман С.А.
,
Зайцев С.В.
, Лермонтов Н.В.,
Лукьянов А.Е.
,
Купреенко С.Ю.
в журнале
Известия Российской академии наук. Серия физическая
, том 77, № 8, с. 1050-1058
DOI
2012
ИССЛЕДОВАНИЕ ХАРАКТЕРИСТИК ФОТОЧУВСТВИТЕЛЬНЫХ ЭЛЕМЕНТОВ МАТРИЦ ФОТОПРИЕМНИКОВ НА ОСНОВЕ SI PT:SI С ПОМОЩЬЮ МЕТОДА НАВЕДЕННОГО ПОТЕНЦИАЛА И ПРОСВЕЧИВАЮЩЕЙ ЭЛЕКТРОННОЙ МИКРОСКОПИИ
Бузынин А.Н.
, Калинушкин В.П., Уваров О.В.,
Рау Э.И.
,
Дицман С.А.
, Лукьянов Ф.А.,
Золотарев В.И.
, Лыткин А.П.
в журнале
Известия Российской академии наук. Серия физическая
, том 76, № 9
2012
Средняя и полная энергия отраженных электронов и контраст изображений в РЭМ в зависимости от угла детектирования
Дицман С.А.
,
Зайцев С.В.
,
Лукьянов Ф.А.
,
Орликовский Н.А.
,
Рау Э.И.
,
Рогов О.А.
в журнале
XXIV Российская конференция по электронной микроскопии. Черноголовка
, с. 275
2011
Analysis of mechanisms of dielectric target charging under the effect of electron irradiation
Evstaf’eva E.N.
,
Rau E.I.
,
Mileev V.N.
,
Novikov L.S.
,
Ditsman S.A.
,
Sennov R.A.
в журнале
Inorganic Materials: Applied Research
, том 2, № 2, с. 106-113
DOI
2010
Анализ механизмов зарядки диэлектрических мишеней под воздействием электронного облучения
Евстафьева Е.Н.
,
Рау Э.И.
,
Милеев В.Н.
,
Новиков Л.С.
,
Дицман С.А.
,
Сеннов Р.А.
в журнале
Перспективные материалы
, издательство
Интерконтакт Наука
(М.)
, № 4, с. 11-20
2010
ИССЛЕДОВАНИЕ ХАРАКТЕРИСТИК МАТРИЦ ФОТОПРИЕМНИКОВ НА ОСНОВЕ SI PT:SI С ПОМОЩЬЮ МЕТОДА НАВЕДЕННОГО ПОТЕНЦИАЛА
Бузынин А.Н.
, Калинушкин В.П.,
Рау Э.И.
,
Дицман С.А.
, Лукьянов Ф.А.
в журнале
Известия Российской академии наук. Серия физическая
, том 74, № 7, с. 1061
2010
МЕТОД И АППАРАТУРА ЭЛЕКТРОННОЙ МИКРОТОМОГРАФИИ В СКАНИРУЮЩЕЙ ЭЛЕКТРОННОЙ МИКРОСКОПИИ
Гостев А.В.,
Дицман С.А.
, Лукьянов Ф.А., Орликовский Н.А.,
Рау Э.И.
,
Сеннов Р.А.
в журнале
Приборы и техника эксперимента
, издательство
ИКЦ «Академкнига»
(Москва)
, № 4, с. 124
2010
ОПРЕДЕЛЕНИЕ СРЕДНЕЙ ЭНЕРГИИ ОТРАЖЕННЫХ ЭЛЕКТРОНОВ В ЗАВИСИМОСТИ ОТ УГЛА ИХ ВЫХОДА
ГОСТЕВ А.В.
,
ДИЦМАН С.А.
,
ДЮКОВ В.Г.
,
ЛУКЬЯНОВ Ф.А.
,
РАУ Э.И.
,
СЕННОВ Р.А.
в журнале
Известия Российской академии наук. Серия физическая
, том 74, № 7, с. 1010-1019
2010
ЭЛЕКТРОННО-ЗОНДОВАЯ НЕРАЗРУШАЮЩАЯ БЕСКОНТАКТНАЯ ДИАГНОСТИКА ПРИБОРНЫХ СТРУКТУР МИКРОЭЛЕКТРОНИКИ
Александров А.Ф.,
Дицман С.А.
, Лукьянов Ф.А., Орликовский Н.А.,
Рау Э.И.
,
Сеннов Р.А.
в журнале
Микроэлектроника
, издательство
Общество с ограниченной ответственностью Интеграция: Образование и Наука
(Москва)
, том 39, № 5, с. 327
2008
ХАРАКТЕРИЗАЦИЯ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ ДЕТЕКТОРОВ МОНОКИНЕТИЧЕСКИХ И ОТРАЖЕННЫХ ЭЛЕКТРОНОВ С ЭНЕРГИЕЙ 1-30 КЭВ
ГОСТЕВ А.В.,
ДИЦМАН С.А.
,
ЗАБРОДСКИЙ В.В.
,
ЗАБРОДСКАЯ Н.В.
, ЛУКЬЯНОВ Ф.А.,
РАУ Э.И.
,
СЕННОВ Р.А.
, СУХАНОВ В.Л.
в журнале
Известия Российской академии наук. Серия физическая
, том 72, № 11, с. 1539
2008
ХАРАКТЕРИЗАЦИЯ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ ДЕТЕКТОРОВ МОНОКИНЕТИЧЕСКИХ И ОТРАЖЕННЫХ ЭЛЕКТРОНОВ С ЭНЕРГИЕЙ 130 КЭВ
Гостев А.В.,
Дицман С.А.
,
Забродский В.В.
,
Забродская Н.В.
, Лукьянов Ф.А.,
Рау Э.И.
,
Сеннов Р.А.
, Суханов В.Л.
в журнале
Известия Российской академии наук. Серия физическая
, том 72, № 11, с. 1539
2001
STEREOMICROTOMOGRAPHY AS A NEW METHOD OF SCANNING ELECTRON MICROSCOPY INVESTIGATION OF THREE-DIMENSIONAL MICROSTRUCTURES
Ditsman S.A.
,
Rau E.I.
,
Sennov R.A.
,
Sokolov V.N.
,
Yurkovets D.I.
,
Melnik V.N.
в журнале
Surface Investigation X-Ray, Synchrotron and Neutron Techniques
, том 16, № 12, с. 1841-1844
2000
СТЕРЕОМИКРОТОМОГРАФИЯ -НОВЫЙ СПОСОБ ИЗУЧЕНИЯ ТРЕХМЕРНЫХ МИКРОСТРУКТУР В РЭМ
Дицман С.А.
,
Мельник В.Н.
,
Рау Э.И.
, Соколов В.Н.,
Юрковец Д.И.
в журнале
Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования
, издательство
Федеральное государственное унитарное предприятие "Академический научно-издательский, производственно-полиграфический и книгораспространительский центр Российской академии наук "Издательство "Наука"
(Москва)
, № 12, с. 13
Доклады на конференциях
2015
Новые возможности и перспективы методов электронной спектроскопии в сканирующем электронном микроскопе.
(Устный)
Авторы:
Гостев А.В.
,
Дицман С.А.
,
Зайцев С.В.
,
Купреенко С.Ю.
,
Татаринцев А.А.
,
Толстов И.О.
,
Рау Э.И.
XIX Российский симпозиум по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твердых тел (РЭМ - 2015) и 3-я Школа молодых ученых "Современные методы электронной и зондовой микроскопии в исследованиях наноструктур и наноматериалов"
, г. Черноголовка Московской обл., Россия, 1-5 июня 2015
2014
Анализ эффективности кольцевых полупроводниковых детекторов отраженных электронов в РЭМ.
(Стендовый)
Авторы:
Дицман С.А.
,
Зайцев С.В.
,
Купреенко С.Ю.
,
Лукьянов А.Е.
,
Рау Э.И.
XXV Российская конференция по электронной микроскопии
, Черноголовка, Россия, 10 мая - 5 июня 2014
2013
«Выражение для основных характеристик обратнорассеянных электронов»
Авторы:
Дицман С.А.
,
Зайцев С.В.
,
Лукьянов А.Е.
,
Рау Э.И.
XVIII Российский симпозиум по растровой электронной микроскопии и аналитическим метолам исследования твердых тел
, Московская область, г. Черноголовка, 2013
2012
The angular dependences of average energy of backscattered electrons and optimal configuration of BSE detectors in SEM
(Устный)
Авторы:
Rau E.I.
,
Orlikovskiy N.A.
,
Ditsman S.A.
,
Zaitsev S.V.
15Th European Microscopy Congress (EMC 2012)
, Манчестер, Великобритания, 16-21 сентября 2012
Тезисы докладов
2015
Новые возможности и перспективы методов электронной спектроскопии в сканирующем электронном микроскопе
Рау Э.И.
,
Гостев А.В.
,
Дицман С.А.
,
Зайцев С.В.
,
Купреенко С.Ю.
,
Татаринцев А.А.
,
Толстов И.О.
в сборнике
XIX Российский симпозиум по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твердых тел . Тезисы докладов
, тезисы, с. 94-95
2014
Анализ эффективности кольцевых полупроводниковых детекторов отражённых электронов в РЭМ
Дицман С.А.
,
Зайцев С.В.
,
Купреенко С.Ю.
,
Лукьянов А.Е.
,
Рау Э.И.
в сборнике
Тез. докл. XXV Российской конф. по электронной микроскопии и 2-й Школы молодых ученых «Современные методы электронной и зондовой микроскопии в исследованиях наноструктур и наноматериалов (РКЭМ-2014)
, место издания
Черноголовка
, том 1, тезисы, с. 196-197
2012
Средняя и полная энергия отраженных электронов и контраст изображений в РЭМ в зависимости от угла детектирования
Дицман С.А.
,
Зайцев С.В.
,
Лукьянов Ф.А.
,
Орликовский Н.А.
,
Рау Э.И.
,
Рогов О.А.
в сборнике
XXIV Российская конференция по электронной микроскопии. Тезисы докладов
, место издания
Черноголовка
, тезисы, с. 275
2011
Измерение толщин нанопленочных покрытий по спектрам отраженных электронов в РЭМ
Гостев А.В.
,
Дицман С.А.
,
Евстафьева Е.Н.
,
Орликовский Н.А.
,
Рау Э.И.
,
Сеннов Р.А.
в сборнике
Тезисы докладов XVII Российского симпозиума по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твердых тел
, место издания
Черноголовка
, тезисы, с. 43
2011
Измерение толщин нанопленочных покрытий по спектрам отраженных электронов в РЭМ
Гостев А.В.
,
Дицман С.А.
,
Евстафьева Е.Н.
,
Орликовский Н.А.
,
Рау Э.И.
,
Сеннов Р.А.
в сборнике
Тезисы докладов XVII Российского симпозиума по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твердых тел
, место издания
Черноголовка
, тезисы, с. 43
2011
Измерение толщин нанопленочных покрытий по спектрам отраженных электронов в РЭМ
Гостев А.В.
,
Дицман С.А.
,
Евстафьева Е.Н.
,
Орликовский Н.А.
,
Рау Э.И.
,
Сеннов Р.А.
в сборнике
Тезисы докладов XVII Российского симпозиума по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твердых тел
, место издания
Черноголовка
, тезисы, с. 43
2011
Измерение толщин нанопленочных покрытий по спектрам отраженных электронов в РЭМ
Гостев А.В.
,
Дицман С.А.
,
Евстафьева Е.Н.
,
Орликовский Н.А.
,
Рау Э.И.
,
Сеннов Р.А.
в сборнике
Тезисы докладов XVII Российского симпозиума по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твердых тел
, место издания
Черноголовка
, тезисы, с. 43
2011
Измерение толщин нанопленочных покрытий по спектрам отраженных электронов в РЭМ
Гостев А.В.
,
Дицман С.А.
,
Евстафьева Е.Н.
,
Орликовский Н.А.
,
Рау Э.И.
,
Сеннов Р.А.
в сборнике
Тезисы докладов XVII Российского симпозиума по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твердых тел
, место издания
Черноголовка
, тезисы, с. 43
2011
Угловые характеристики средней энергии отраженных электронов для массивных и пленочных мишеней
Гостев А.В.
,
Дицман С.А.
,
Орликовский Н.А.
,
Рау Э.И.
,
Сеннов Р.А.
в сборнике
Тезисы докладов XVII Российского симпозиума по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твердых тел
, место издания
Черноголовка
, тезисы, с. 42
2008
К вопросу о пространственном разрешении в режиме отраженных электронов в РЭМ
Дицман С.А.
, Лукьянов Ф.А., Орликовский Н.А.,
Рау Э.И.
,
Сеннов Р.А.
в сборнике
XXII Российская конференция по электронной микроскопии «ЭМ`2008». Черноголовка, 2 июня-6 июня 2008 г. Тезисы докладов
, место издания
«Богородский печатник» Москва
, тезисы, с. 127