ИСТИНА

Дицман С.А.

Соавторы: Рау Э.И., Сеннов Р.А., Гостев А.В., Зайцев С.В., Орликовский Н.А., Евстафьева, Купреенко С.Ю., Лукьянов А. ., Лукьянов Ф.А., Buzynin A.N., Orlikovskiy N.A., Евстафьева Е.Н., ЗАБРОДСКИЙ В.В. показать полностью..., Забродская Н.С., Мельник В.Н., Милеев В.Н., Новиков Л.С., Юрковец Д.И., Adhikari S., Alaoui A.E., Amaryan M.J., Angelini G., Ashkenazi A., Atac H., Battaglieri M., Beck A., Beck S.M., Bedlinskiy I., Benmokhtar F., Betancourt M., Bianconi A., Biselli A.S., Bossu F., Briscoe W.J., Bulumulla D., Byler N., CLARK L.V., Camacho C.M., Carman D.S., Carvajal J.C., Celentano A., Chatagnon P., Chetry T., Ciullo G., Clary B.A., Cohen E.O., Cole P.L., Coloma P., Contalbrigo M., Crede V., Cruz-Torres R., Dashyan N., Defurne M., Denniston A., Deur A., Djalali C., Dolan S., Duer M., Dupre R., D’Angelo A., Egiyan H., Ehrhart M., Elouadrhiri L., Eugenio P., Fassi L.E., Forrest M., Gardiner S., Gavalian G., Gilfoyle G.P., Giovanetti K.L., Girod F.X., Gothe R.W., Griffioen K.A., Guida M., Guo X.L., Hakobyan H., Hattawy M., Hauenstein F., Hayward T.B., Heddle D., Hen O., Hicks K., Hobara Y., Holtrop M., Hrnjic A., Ireland D.G., Jo H.S., Joo K., Khachatryan M., Khandaker M., Korover I., Kubarovsky V., Leali M., Lenisa P., Lim W., Livingston K., MacGregor I.J., Mahn K., Marchand D., Marsicano L., Mascagna V., McKinnon B., Megias G.D., Mirazita M., Nadel-Turonski P., Nambrath A., Niccolai S., Niculescu G., Osipenko M., Ostrovidov A.I., Pak K., Paolone M., Papadopoulou A., Pappalardo L.L., Paremuzyan R., Pasyuk E., Piasetzky E., Pogorelko O., Poudel J., Prof Y.M., Protopopescu D., Pybus J., Raue B.A., Riehl S., Ripani M., Ritman J., Rizzo F., Rosner G., Rossi P., Sabati F., Salgado C., Schmidt A., Schumacher R.A., Segarra E.P., Sharabian Y., Shrestha U., Sokhan D., Soto O., Sparveris N., Stepanyan S., Steve T., Strakovsky I.I., Strauch S., Tyson R., Ungaro M., Venturelli L., Voskanyan H., Voutier E., Watts J., Wood M., Zachariou N., Zhang J., Zhao Z., wei x.0., Алиева Т.К., Барон Л.И., Бояринов С.Ю., Буркерт В., Вайнштейн Ю.А., Головач Е.Н., Дюков В.Г., Золотарев В.И., Исупов Е.Л., Ишханов Б.С., Келлер Д.С., Ким Ч.Ы., Кун К.Е., Ланда Л.Н., Марков Н.С., Минеева Т.Н., Мовсесян А.К., Мокеев В.И., Рогов О.А., Рогов О.А., Родэ С.В., Скородумина Ю.А., Соколов В.Н., Субан А.В., Татаринцев А.А., Толстов И.О., Филиппов А.В., Хана Аль М., Чесноков В.В.

15 статей, 4 доклада на конференциях, 10 тезисов докладов

Количество цитирований статей в журналах по данным Scopus: 23

IstinaResearcherID (IRID): 1080967

Деятельность

• Статьи в журналах

  • 
    • 2021 Electron-beam energy reconstruction for neutrino oscillation measurements
    • Khachatryan M., Papadopoulou A., Ashkenazi A., Hauenstein F., Nambrath A., Hrnjic A., Weinstein L.B., Hen O., Piasetzky E., Betancourt M., Dytman S., Mahn K., Coloma P., Adhikari S., Amaryan M.J., Angelini Giovanni, Atac H., Barion L., Battaglieri M., Bedlinskiy I., Beck A., Benmokhtar F., Bianconi A., Biselli A.S., Bossu F., Boiarinov S., Briscoe W.J., Brooks W.K., Bulumulla D., Burkert V.D., Carman D.S., Carvajal J.C., Celentano A., Chatagnon P., Chesnokov V., Chetry T., Ciullo G., Clark L., Clary B.A., Cohen E.O., Cole P.L., Contalbrigo M., Crede V., Cruz-Torres R., D’Angelo A., Dashyan N., Vita R.De, Defurne M., Denniston A., Deur A., Diehl S., Djalali C., Duer M., Dupre R., Egiyan H., Ehrhart M., Alaoui A.El, Fassi L.El, Elouadrhiri L., Eugenio P., Fersch R., Filippi A., Forest T.A., Gavalian G., Gilfoyle G.P., Giovanetti K.L., Girod F.X., Glazier D.I., Golovatch E., Gothe R.W., Griffioen K.A., Guidal M., Guo L., Hakobyan H., Hattawy M., Hayward T.B., Heddle D., Hicks K., Hobart A., Holtrop M., Ilieva Y., Ireland D.G., Ishkhanov B.S., Isupov E.L., Jo H.S., Joo K., Keller D., Khanal A., Khandaker M., Kim C.W., Kim W., Korover I., Kubarovsky V., Kuhn S.E., Lanza L., Leali M., Lenisa P., Livingston K., MacGregor I.J.D, Marchand D., Markov N., Marsicano L., Mascagna V., McKinnon B., Beck S.May-Tal, Mineeva T., Mirazita M., Mokeev V., Movsisyan A., Camacho C.Munoz, Nadel-Turonski P., Neupane K., Niccolai S., Niculescu G., Osipenko M., Ostrovidov A.I., Paolone M., Pappalardo L.L., Paremuzyan R., Park K., Pasyuk E., Pogorelko O., Poudel J., Prok Y., Protopopescu D., Pybus J., Ripani M., Raue B., Ritman J., Rizzo A., Rosner G., Rossi P., Sabati F., Salgado C., Schmidt A., Schumacher R.A., Segarra E.P., Sharabian Y.G., Shrestha U., Skorodumina Iu, Sokhan D., Soto O., Sparveris N., Stepanyan S., Strakovsky I.I., Strauch S., Tyler N., Tyson R., Ungaro M., Venturelli L., Voskanyan H., Voutier E., Watts D., Wei X., Wood M.H., Zachariou N., Zhang J., Zhao Z.W., Dolan S., Megias G.D., Gardiner S.
    • в журнале Nature, издательство Nature Publishing Group (United Kingdom), том 599, № 7886, с. 565-570 DOI
  • 
    • 2013 Analysis of Formulas for Calculating the Main Characteristics of Backscattered Electrons and How They Compare to Experimental Results
    • Rau E.I., Ditsman S.A., Zaitsev S.V., Lermontov N.V., Luk’yanov A.E., Kupreenko S.Yu
    • в журнале Bulletin of the Russian Academy of Sciences: Physics, издательство Allerton Press Inc. (United States), том 77, № 8, с. 951-958 DOI
  • 
    • 2013 Анализ формул для расчета основных характеристик отраженных электронов и сравнение с экспериментальными результатами
    • Рау Э.И., Дицман С.А., Зайцев С.В., Лермонтов Н.В., Лукьянов А.Е., Купреенко С.Ю.
    • в журнале Известия Российской академии наук. Серия физическая, том 77, № 8, с. 1050-1058 DOI
  • • 2012 ИССЛЕДОВАНИЕ ХАРАКТЕРИСТИК ФОТОЧУВСТВИТЕЛЬНЫХ ЭЛЕМЕНТОВ МАТРИЦ ФОТОПРИЕМНИКОВ НА ОСНОВЕ SI PT:SI С ПОМОЩЬЮ МЕТОДА НАВЕДЕННОГО ПОТЕНЦИАЛА И ПРОСВЕЧИВАЮЩЕЙ ЭЛЕКТРОННОЙ МИКРОСКОПИИ
    • Бузынин А.Н., Калинушкин В.П., Уваров О.В., Рау Э.И., Дицман С.А., Лукьянов Ф.А., Золотарев В.И., Лыткин А.П.
    • в журнале Известия Российской академии наук. Серия физическая, том 76, № 9
  • • 2012 Средняя и полная энергия отраженных электронов и контраст изображений в РЭМ в зависимости от угла детектирования
    • Дицман С.А., Зайцев С.В., Лукьянов Ф.А., Орликовский Н.А., Рау Э.И., Рогов О.А.
    • в журнале XXIV Российская конференция по электронной микроскопии. Черноголовка, с. 275
  • 
    • 2011 Analysis of mechanisms of dielectric target charging under the effect of electron irradiation
    • Evstaf’eva E.N., Rau E.I., Mileev V.N., Novikov L.S., Ditsman S.A., Sennov R.A.
    • в журнале Inorganic Materials: Applied Research, том 2, № 2, с. 106-113 DOI
  • • 2010 Анализ механизмов зарядки диэлектрических мишеней под воздействием электронного облучения
    • Евстафьева Е.Н., Рау Э.И., Милеев В.Н., Новиков Л.С., Дицман С.А., Сеннов Р.А.
    • в журнале Перспективные материалы, издательство Интерконтакт Наука (М.), № 4, с. 11-20
  • • 2010 ИССЛЕДОВАНИЕ ХАРАКТЕРИСТИК МАТРИЦ ФОТОПРИЕМНИКОВ НА ОСНОВЕ SI PT:SI С ПОМОЩЬЮ МЕТОДА НАВЕДЕННОГО ПОТЕНЦИАЛА
    • Бузынин А.Н., Калинушкин В.П., Рау Э.И., Дицман С.А., Лукьянов Ф.А.
    • в журнале Известия Российской академии наук. Серия физическая, том 74, № 7, с. 1061
  • • 2010 МЕТОД И АППАРАТУРА ЭЛЕКТРОННОЙ МИКРОТОМОГРАФИИ В СКАНИРУЮЩЕЙ ЭЛЕКТРОННОЙ МИКРОСКОПИИ
    • Гостев А.В., Дицман С.А., Лукьянов Ф.А., Орликовский Н.А., Рау Э.И., Сеннов Р.А.
    • в журнале Приборы и техника эксперимента, издательство ИКЦ «Академкнига» (Москва), № 4, с. 124
  • • 2010 ОПРЕДЕЛЕНИЕ СРЕДНЕЙ ЭНЕРГИИ ОТРАЖЕННЫХ ЭЛЕКТРОНОВ В ЗАВИСИМОСТИ ОТ УГЛА ИХ ВЫХОДА
    • ГОСТЕВ А.В., ДИЦМАН С.А., ДЮКОВ В.Г., ЛУКЬЯНОВ Ф.А., РАУ Э.И., СЕННОВ Р.А.
    • в журнале Известия Российской академии наук. Серия физическая, том 74, № 7, с. 1010-1019
  • • 2010 ЭЛЕКТРОННО-ЗОНДОВАЯ НЕРАЗРУШАЮЩАЯ БЕСКОНТАКТНАЯ ДИАГНОСТИКА ПРИБОРНЫХ СТРУКТУР МИКРОЭЛЕКТРОНИКИ
    • Александров А.Ф., Дицман С.А., Лукьянов Ф.А., Орликовский Н.А., Рау Э.И., Сеннов Р.А.
    • в журнале Микроэлектроника, издательство Общество с ограниченной ответственностью Интеграция: Образование и Наука (Москва), том 39, № 5, с. 327
  • • 2008 ХАРАКТЕРИЗАЦИЯ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ ДЕТЕКТОРОВ МОНОКИНЕТИЧЕСКИХ И ОТРАЖЕННЫХ ЭЛЕКТРОНОВ С ЭНЕРГИЕЙ 1-30 КЭВ
    • ГОСТЕВ А.В., ДИЦМАН С.А., ЗАБРОДСКИЙ В.В., ЗАБРОДСКАЯ Н.В., ЛУКЬЯНОВ Ф.А., РАУ Э.И., СЕННОВ Р.А., СУХАНОВ В.Л.
    • в журнале Известия Российской академии наук. Серия физическая, том 72, № 11, с. 1539
  • • 2008 ХАРАКТЕРИЗАЦИЯ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ ДЕТЕКТОРОВ МОНОКИНЕТИЧЕСКИХ И ОТРАЖЕННЫХ ЭЛЕКТРОНОВ С ЭНЕРГИЕЙ 1–30 КЭВ
    • Гостев А.В., Дицман С.А., Забродский В.В., Забродская Н.В., Лукьянов Ф.А., Рау Э.И., Сеннов Р.А., Суханов В.Л.
    • в журнале Известия Российской академии наук. Серия физическая, том 72, № 11, с. 1539
  • 
    • 2001 STEREOMICROTOMOGRAPHY AS A NEW METHOD OF SCANNING ELECTRON MICROSCOPY INVESTIGATION OF THREE-DIMENSIONAL MICROSTRUCTURES
    • Ditsman S.A., Rau E.I., Sennov R.A., Sokolov V.N., Yurkovets D.I., Melnik V.N.
    • в журнале Surface Investigation X-Ray, Synchrotron and Neutron Techniques, том 16, № 12, с. 1841-1844
  • • 2000 СТЕРЕОМИКРОТОМОГРАФИЯ -НОВЫЙ СПОСОБ ИЗУЧЕНИЯ ТРЕХМЕРНЫХ МИКРОСТРУКТУР В РЭМ
    • Дицман С.А., Мельник В.Н., Рау Э.И., Соколов В.Н., Юрковец Д.И.
    • в журнале Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования, издательство Федеральное государственное унитарное предприятие "Академический научно-издательский, производственно-полиграфический и книгораспространительский центр Российской академии наук "Издательство "Наука" (Москва), № 12, с. 13

• Доклады на конференциях

  • • 2015 Новые возможности и перспективы методов электронной спектроскопии в сканирующем электронном микроскопе. (Устный)
    • Авторы: Гостев А.В., Дицман С.А., Зайцев С.В., Купреенко С.Ю., Татаринцев А.А., Толстов И.О., Рау Э.И.
    • XIX Российский симпозиум по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твердых тел (РЭМ - 2015) и 3-я Школа молодых ученых "Современные методы электронной и зондовой микроскопии в исследованиях наноструктур и наноматериалов", г. Черноголовка Московской обл., Россия, 1-5 июня 2015
  • • 2014 Анализ эффективности кольцевых полупроводниковых детекторов отраженных электронов в РЭМ. (Стендовый)
    • Авторы: Дицман С.А., Зайцев С.В., Купреенко С.Ю., Лукьянов А.Е., Рау Э.И.
    • XXV Российская конференция по электронной микроскопии, Черноголовка, Россия, 10 мая - 5 июня 2014
  • • 2013 «Выражение для основных характеристик обратнорассеянных электронов»
    • Авторы: Дицман С.А., Зайцев С.В., Лукьянов А.Е., Рау Э.И.
    • XVIII Российский симпозиум по растровой электронной микроскопии и аналитическим метолам исследования твердых тел, Московская область, г. Черноголовка, 2013
  • • 2012 The angular dependences of average energy of backscattered electrons and optimal configuration of BSE detectors in SEM (Устный)
    • Авторы: Rau E.I., Orlikovskiy N.A., Ditsman S.A., Zaitsev S.V.
    • 15Th European Microscopy Congress (EMC 2012), Манчестер, Великобритания, 16-21 сентября 2012

• Тезисы докладов

  • 
    • 2015 Новые возможности и перспективы методов электронной спектроскопии в сканирующем электронном микроскопе
    • Рау Э.И., Гостев А.В., Дицман С.А., Зайцев С.В., Купреенко С.Ю., Татаринцев А.А., Толстов И.О.
    • в сборнике XIX Российский симпозиум по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твердых тел . Тезисы докладов, тезисы, с. 94-95
  • • 2014 Анализ эффективности кольцевых полупроводниковых детекторов отражённых электронов в РЭМ
    • Дицман С.А., Зайцев С.В., Купреенко С.Ю., Лукьянов А.Е., Рау Э.И.
    • в сборнике Тез. докл. XXV Российской конф. по электронной микроскопии и 2-й Школы молодых ученых «Современные методы электронной и зондовой микроскопии в исследованиях наноструктур и наноматериалов (РКЭМ-2014), место издания Черноголовка, том 1, тезисы, с. 196-197
  • • 2012 Средняя и полная энергия отраженных электронов и контраст изображений в РЭМ в зависимости от угла детектирования
    • Дицман С.А., Зайцев С.В., Лукьянов Ф.А., Орликовский Н.А., Рау Э.И., Рогов О.А.
    • в сборнике XXIV Российская конференция по электронной микроскопии. Тезисы докладов, место издания Черноголовка, тезисы, с. 275
  • • 2011 Измерение толщин нанопленочных покрытий по спектрам отраженных электронов в РЭМ
    • Гостев А.В., Дицман С.А., Евстафьева Е.Н., Орликовский Н.А., Рау Э.И., Сеннов Р.А.
    • в сборнике Тезисы докладов XVII Российского симпозиума по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твердых тел, место издания Черноголовка, тезисы, с. 43
  • • 2011 Измерение толщин нанопленочных покрытий по спектрам отраженных электронов в РЭМ
    • Гостев А.В., Дицман С.А., Евстафьева Е.Н., Орликовский Н.А., Рау Э.И., Сеннов Р.А.
    • в сборнике Тезисы докладов XVII Российского симпозиума по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твердых тел, место издания Черноголовка, тезисы, с. 43
  • • 2011 Измерение толщин нанопленочных покрытий по спектрам отраженных электронов в РЭМ
    • Гостев А.В., Дицман С.А., Евстафьева Е.Н., Орликовский Н.А., Рау Э.И., Сеннов Р.А.
    • в сборнике Тезисы докладов XVII Российского симпозиума по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твердых тел, место издания Черноголовка, тезисы, с. 43
  • • 2011 Измерение толщин нанопленочных покрытий по спектрам отраженных электронов в РЭМ
    • Гостев А.В., Дицман С.А., Евстафьева Е.Н., Орликовский Н.А., Рау Э.И., Сеннов Р.А.
    • в сборнике Тезисы докладов XVII Российского симпозиума по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твердых тел, место издания Черноголовка, тезисы, с. 43
  • • 2011 Измерение толщин нанопленочных покрытий по спектрам отраженных электронов в РЭМ
    • Гостев А.В., Дицман С.А., Евстафьева Е.Н., Орликовский Н.А., Рау Э.И., Сеннов Р.А.
    • в сборнике Тезисы докладов XVII Российского симпозиума по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твердых тел, место издания Черноголовка, тезисы, с. 43
  • • 2011 Угловые характеристики средней энергии отраженных электронов для массивных и пленочных мишеней
    • Гостев А.В., Дицман С.А., Орликовский Н.А., Рау Э.И., Сеннов Р.А.
    • в сборнике Тезисы докладов XVII Российского симпозиума по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твердых тел, место издания Черноголовка, тезисы, с. 42
  • • 2008 К вопросу о пространственном разрешении в режиме отраженных электронов в РЭМ
    • Дицман С.А., Лукьянов Ф.А., Орликовский Н.А., Рау Э.И., Сеннов Р.А.
    • в сборнике XXII Российская конференция по электронной микроскопии «ЭМ`2008». Черноголовка, 2 июня-6 июня 2008 г. Тезисы докладов, место издания «Богородский печатник» Москва, тезисы, с. 127