Выберите категорию обращения:
Общие вопросы
Отчеты
Рейтинги
Мониторинговый отчёт
Диссертационные советы
Конкурсы
Ввод данных
Структура организаций
Аспирантура
Научное оборудование
Импорт педагогической нагрузки
Журналы и импакт-факторы
Тема обращения:
Описание проблемы:
Введите почтовый адрес:
ИСТИНА
Войти в систему
Регистрация
ИПМех РАН
Главная
Поиск
Статистика
О проекте
Помощь
В связи с техническими работами в центре обработки данных, часть прикреплённых файлов в настоящее время недоступна.
скрыть
Kushev S.B.
Соавторы:
Soldatenko S.A.
,
Иевлев В.М.
,
Samoylov A.M.
,
Рябцев С.С.
,
Bezryadin M.N.
,
Latyshev A.N.
,
Ovchinnikov O.V.
,
Sinel'Nikov A.A.
,
Возгорьков А.М.
,
Донцов А.И.
,
Канныкин С.В.
,
Леонова Л.Ю.
,
Смирнов М.С.
показать полностью...
,
Сумец М.П.
,
Шапошник А.В.
4 статьи
Количество цитирований статей в журналах по данным Web of Science: 18, Scopus: 28
IstinaResearcherID (IRID): 20301469
Деятельность
Статьи в журналах
2019
On the Synthesis of PdO−RuO2 Solid-Solution Thin Films by Thermal Oxidation and Investigation of Their Gas-Sensing Properties
Kuschev S.B.
, Ryabtsev S.V.,
Soldatenko S.A.
, Sinelnikov A.A.,
Dontsov A.I.
, Maksimenko A.A., Turaeva T.L.
в журнале
Journal of Surface Investigation: X-ray, Synchrotron and Neutron Techniques
, издательство
Pleiades Publishing, Ltd
(Road Town, United Kingdom)
, том 13, № 1, с. 87-91
DOI
2017
Microstructure and electrical properties of palladium oxide thin films for oxidizing gases detection
Ryabtsev S.V.
,
Ievlev V.M.
,
Samoylov A.M.
,
Kuschev S.B.
,
Soldatenko S.A.
в журнале
Thin Solid Films
, издательство
Elsevier Sequoia
(Switzerland)
, том 636, с. 751-759
2016
Thin films of palladium oxide for gas sensors
Ryabtsev S.V.
,
Shaposhnik A.V.
,
Samoylov A.M.
,
Sinelnikov A.A.
,
Soldatenko S.A.
,
Kuschev S.B.
,
Ievlev V.M.
в журнале
Doklady Physical Chemistry
, издательство
Maik Nauka/Interperiodica Publishing
(Russian Federation)
, том 470, № 2, с. 158-161
DOI
2014
Synthesis of thin p-type rutile films
Ievlev V.M.
,
Kushev S.B.
,
Ovchinnikov O.V.
,
Sumez M.P.
,
Latyshev A.N.
,
Bezryadin M.N.
,
Leonova L.Y.
,
Kannykin S.V.
,
Vozgorkov A.M.
,
Smirnov M.S.
в журнале
Semiconductors
, издательство
Springer
(New York)
, том 48, с. 251-256