Создать обращение в службу поддержки пользователей
Обращение успешно создано! Ему присвоен номер 0.
На адрес Вашей электронной почты отправлено письмо о регистрации обращения. Вы можете ответить на него, если хотите предоставить дополнительную информацию или прикрепить файлы.
Произошла ошибка при создании обращения. Попробуйте перезагрузить страницу и заново создать обращение.

Подтверждение выхода

Вы действительно хотите завершить сессию?
ИСТИНА ИСТИНА
Войти в систему
Регистрация
  • Область интересов
  • Публикации
  • НИР и НИОКР
  • Доклады
  • Учебная работа
  • Инновации
  • Прочее
  • Все результаты
Удаление сотрудника
Вы действительно хотите удалить сотрудника?
Удалить
Kulanchikov Yu O.
Kulanchikov Yu O.
IstinaResearcherID (IRID): 804878043
–

Статьи в журналах

    • 2023 The effect of trapping sites introduced by 1 MeV proton irradiation on the reverse current recovery time in Ga2O3-based Schottky diodes
    • Schemerov I.V., Polyakov A.Ya, Lagov P.B., Kobeleva S.P., Kochkova A.I., Kulanchikov Yu O., Doroshkevich A.S., Kirilov V.D.
    • в журнале Заводская лаборатория. Диагностика материалов, издательство ТЕСТ-ЗЛ (М.), том 89, № 7, с. 25-33 DOI

ИПМех РАН
© 2011-2025 Лаборатория 404. НИИ механики МГУ.
Правила пользования
Помощь
Создать обращение Обратная связь