Выберите категорию обращения:
Общие вопросы
Отчеты
Рейтинги
Мониторинговый отчёт
Диссертационные советы
Конкурсы
Ввод данных
Структура организаций
Аспирантура
Научное оборудование
Импорт педагогической нагрузки
Журналы и импакт-факторы
Тема обращения:
Описание проблемы:
Введите почтовый адрес:
ИСТИНА
Войти в систему
Регистрация
ИПМех РАН
Главная
Поиск
Статистика
О проекте
Помощь
В связи с техническими работами в центре обработки данных, часть прикреплённых файлов в настоящее время недоступна.
скрыть
Rappich J.
Соавторы:
Тимошенко В.Ю.
,
Дитрих Т.
,
Кытин В.Г.
,
Koch F.
,
Lips K.
,
Sieber I.
,
Булычев Б.М.
,
Кульбачинский В.А.
,
Лунин Р.А.
,
Похолок К.В.
,
KAMENEV V.
,
Кречетов А.В.
,
Петренко А.А.
показать полностью...
,
Duzhko V.
,
Fussel W.
,
Kliefoth K.
,
LEWERENZ H.
,
Richardson V.
,
Schwartzkopff M.
,
Tsybeskov L.
,
Кашкаров П.К.
21 статья
,
1 доклад на конференции
,
1 тезисы доклада
Количество цитирований статей в журналах по данным Web of Science: 296, Scopus: 349
IstinaResearcherID (IRID): 847474
Деятельность
Статьи в журналах
2004
Heterometallic fullerides of Fe and Cu groups with the composition K2MC60 (M=Fe+2, Fe+3, CO+2, Ni+2, Cu+1, Cu+2, Ag+1)
Bulychev B.M.
,
Lunin R.A.
, Krechetov A.V.,
Kulbachinskii V.A.
,
Kytin V.G.
,
Poholok K.V.
,
Lips K.
,
Rappich J.
в журнале
Journal of Physics and Chemistry of Solids
, издательство
Pergamon Press Ltd.
(United Kingdom)
, том 65, № 2-3, с. 337-342
DOI
2002
Non-radiative recombination at reconstructed Si surfaces
Dittrich T.
, Bitzer T., Rada T.,
Timoshenko V.Y.
,
Rappich J.
в журнале
Solid-State Electronics
, издательство
Pergamon Press Ltd.
(United Kingdom)
, том 46, № 11, с. 1863-1872
DOI
2001
Defect transformation under growth of submonolayer oxides on silicon surfaces at low temperatures
Dittrich T.
, Bitzer T., Rada T.,
Richardson N.V.
,
Timoshenko V.Y.
,
Rappich J.
,
Koch F.
в журнале
Microelectronic Engineering
, издательство
Elsevier BV
(Netherlands)
, том 59, № 1-4, с. 399-404
DOI
2001
Injection photovoltage in thin anodic TiO2 layers
Kytin V.
,
Duzhko V.
,
Timoshenko V.Y.
,
Rappich J.
,
Dittrich T.
в журнале
Physica status solidi (A): Applied research
, издательство
Academic Press
(United States)
, том 185, № 2, с. R1-R3
DOI
2001
Room temperature electroluminescence from a c-Si p-i-n structure
Dittrich T.
,
Timoshenko V.Y.
,
Rappich J.
,
Tsybeskov L.
в журнале
Journal of Applied Physics
, издательство
AIP Publishing
(United States)
, том 90, № 5, с. 2310-2313
DOI
2000
Annihilation of nonradiative defects on hydrogenated silicon surfaces under pulsed-laser irradiation
Timoshenko V.Y.
,
Dittrich T.
,
Koch F.
,
Kamenev B.V.
,
Rappich J.
в журнале
Applied Physics Letters
, издательство
AIP Publishing
(United States)
, том 77, № 19, с. 3006-3008
DOI
2000
Is there a limit for the passivation of Si surfaces during anodic oxidation in acidic NH4F solutions?
Rappich J.
,
Timoshenko V.Y.
, Wurz R.,
Dittrich T.
в журнале
Electrochimica Acta
, издательство
Elsevier BV
(Netherlands)
, том 45, № 28, с. 4629-4633
DOI
2000
Laser-induced melting of porous silicon
Timoshenko V.Y.
,
Dittrich T.
,
Sieber I.
,
Rappich J.
,
Kamenev B.V.
,
Kashkarov P.K.
в журнале
Physica status solidi (A): Applied research
, издательство
Academic Press
(United States)
, том 182, № 1, с. 325-330
DOI
2000
Photoluminescence characterization of non-radiative defect density on silicon surfaces and interfaces at room temperature
Timoshenko V.Y.
,
Petrenko A.B.
,
Dittrich T.
,
Fussel W.
,
Rappich J.
в журнале
Thin Solid Films
, издательство
Elsevier Sequoia
(Switzerland)
, том 364, № 1-2, с. 196-199
DOI
1999
Effect of local surface structure on electronic properties of hydrogenated silicon surfaces
Dittrich T.
,
Timoshenko V.Y.
,
Schwartzkopff M.
, Hartmann E.,
Rappich J.
, Kashkarov P.K.,
Koch F.
в журнале
Microelectronic Engineering
, издательство
Elsevier BV
(Netherlands)
, том 48, № 1-4, с. 75-78
DOI
1999
Effect of roughness of hydrogenated Si(111) surfaces on defect annealing and formation under excimer laser irradiation
Timoshenko V.Y.
,
Dittrich T.
,
Rappich J.
в журнале
Physica status solidi (A): Applied research
, издательство
Academic Press
(United States)
, том 173, № 2, с. R3-R4
DOI
1999
Quantitative analysis of room temperature photoluminescence of c-Si wafers excited by short laser pulses
Timoshenko V.Y.
,
Petrenko A.B.
, Stolyarov M.N.,
Dittrich T.
, Fuessel W.,
Rappich J.
в журнале
Journal of Applied Physics
, издательство
AIP Publishing
(United States)
, том 85, № 8, с. 4171-4175
DOI
1998
Express characterization of indirect semiconductor surfaces by in situ photoluminescence during chemical and electrochemical treatments
Timoshenko V.Y.
,
Rappich J.
,
Dittrich T.
в журнале
Applied Surface Science
, издательство
Elsevier BV
(Netherlands)
, том 123, с. 111-114
DOI
1998
Unusual stabilization of Si surfaces during roughening in fluoride solution
Dittrich T.
,
Timoshenko V.Y.
,
Rappich J.
в журнале
Applied Physics Letters
, издательство
AIP Publishing
(United States)
, том 72, № 13, с. 1635-1637
DOI
1997
Blocking effect of charge transfer at the porous silicon/silicon interface
Dittrich T.
,
Rappich J.
,
Timoshenko V.Y.
в журнале
Applied Physics Letters
, издательство
AIP Publishing
(United States)
, том 70, № 20, с. 2705-2707
DOI
1997
Correlation between surface non-radiative recombination and current oscillation at p-Si(100) during electropolishing in fluoride solution
Rappich J.
,
Timoshenko V.Y.
,
Dittrich T.
в журнале
Berichte der Bunsengesellschaft/Physical Chemistry Chemical Physics
, том 101, № 1, с. 139-142
1997
In situ monitoring of electrochemical processes at the (100) p-Si/aqueous NH4(F) electrolyte interface by photoluminescence
Rappich J.
,
Timoshenko V.Y.
,
Dittrich T.
в журнале
Journal of the Electrochemical Society
, издательство
Electrochemical Society, Inc.
(United States)
, том 144, № 2, с. 493-496
DOI
1997
In situ photoluminescence analysis of nonradiative recombination on silicon surfaces treated in fluoride solution
Timoshenko V.Y.
,
Rappich J.
,
Dittrich T.
в журнале
Japanese Journal of Applied Physics
, издательство
Institute of Pure and Applied Physics
(Japan)
, том 36, № 1AB, с. L58-L60
DOI
1996
Electronic properties of thin Au/nanoporous-Si/n-Si structures
Dittrich T.,
Kliefoth K.
,
Sieber I.
,
Rappich J.
, Rauscher S.,
Timoshenko V.Y.
в журнале
Thin Solid Films
, издательство
Elsevier Sequoia
(Switzerland)
, том 276, № 1-2, с. 183-186
DOI
1995
ULTRATHIN LUMINESCENT NANOPOROUS SILICON ON N-SI - PH DEPENDENT PREPARATION IN AQUEOUS NH4F SOLUTIONS
DITTRICH T.
, RAUSCHER S.,
TIMOSHENKO VY
,
RAPPICH J.
,
SIEBER I.
, FLIETNER H.,
LEWERENZ HJ
в журнале
Applied Physics Letters
, издательство
AIP Publishing
(United States)
, том 67, № 8, с. 1134-1136
DOI
Статьи в сборниках
2004
Heterometallic fullerides of transition metals with the composition K2MC60”
Kulbachinskii V.A.
,
Bulychev B.M.
,
Lunin R.A.
,
Krechetov A.V.
,
Kytin V.G.
,
Poholok K.V.
,
Lips K.
,
Rappich J.
в сборнике
Mathematics, Physics and Chemistry: Hydrogen Materials and Chemistry of Carbon Nanomaterials (ed. by T.N. Vezioglu, S.Yu. Zaginaichenko, D.V. Shur, B. Baranowski, A.P. Shpak, V.V. Skorohod. )
, серия
Nato Science Series II
, издательство
Kluwer Academic Publishers
(Netherlands)
, том 172, с. 185-192
Доклады на конференциях
2014
In-situ photoluminescence monitoring of silicon nanowire growth during metal assisted chemical etching
(Стендовый)
Авторы:
Georgobiani V.A.
,
Gonchar K.A.
,
Sokolov S.A.
,
Rappich J.
,
Timoshenko V.Yu
,
Jerol U.
,
Greil S.M.
,
Osminkina L.A.
European Materials Research Society (E-MRS), Spring Meeting
, Lille, France, Франция, 2014
Тезисы докладов
2003
Superconductivity and magnetism in heterometallic fullerides of transition metals
Kulbachinskii V.A.
,
Krechetov A.V.
,
Kytin V.G.
,
Lunin R.A.
,
Bulychev B.M.
,
Poholok K.V.
,
Lips K.
,
Rappich J.
в сборнике
Abstracts of International Conference "Quantum complexities in condensed matter", Bukhara, Uzbekistan, August 21-28, 2003
, место издания
Bukhara, Uzbekistan
, тезисы, с. 42