Выберите категорию обращения:
Общие вопросы
Отчеты
Рейтинги
Мониторинговый отчёт
Диссертационные советы
Конкурсы
Ввод данных
Структура организаций
Аспирантура
Научное оборудование
Импорт педагогической нагрузки
Журналы и импакт-факторы
Тема обращения:
Описание проблемы:
Введите почтовый адрес:
ИСТИНА
Войти в систему
Регистрация
ИПМех РАН
Главная
Поиск
Статистика
О проекте
Помощь
Russian Microelectronics
журнал
Индексирование: Scopus (1 января 1970 г.-), Журналы РФ в Scopus (1 января 1970 г.-), Белый список (20 октября 2022 г.-)
Период активности журнала: не указан
Издательство:
Maik Nauka/Interperiodica Publishing
Местоположение издательства:
Russian Federation
ISSN:
1063-7397 (Print), 1608-3415
Статьи, опубликованные в журнале
Страницы:
<< предыдущая
1
2
3
4
следующая >>
2014
Investigation of the BF3 plasma particle’s lateral distribution using two-view emission tomography
Fadeev A.V.,
Rudenko K.V.
в журнале
Russian Microelectronics
, издательство
Maik Nauka/Interperiodica Publishing
(Russian Federation)
, том 43, № 6, с. 407-412
DOI
2014
New hybrid materials for organic light-emitting diode devices
Avetisov R.I.
,
Petrova O.B.
,
Akkuzina A.A.
,
Khomyakov A.V.
,
Saifutyarov R.R.
,
Cherednichenko A.G.
,
Makarov N.A.
,
Avetisov I.K.
, Sagalova T.B.
в журнале
Russian Microelectronics
, издательство
Maik Nauka/Interperiodica Publishing
(Russian Federation)
, том 43, № 8, с. 526-530
DOI
2014
Promising integral matrix detectors of thermal radiation with optical reading
Rygalin D.B.
, Fetisov E.A., Khafizov R.Z., Zolotarev V.I., Reshetnikov I.A., Rudakov G.A.,
Lapshin R.V.
,
Kirilenko E.P.
в журнале
Russian Microelectronics
, издательство
Maik Nauka/Interperiodica Publishing
(Russian Federation)
, том 43, № 7, с. 516-518
DOI
2014
Verification of the algorithm for emission tomography of plasma inhomogeneities in a plasma-chemical reactor using the Langmuir multiprobe
Fadeev A.V.,
Rudenko K.V.
в журнале
Russian Microelectronics
, издательство
Maik Nauka/Interperiodica Publishing
(Russian Federation)
, том 43, № 4, с. 252-257
DOI
2013
Complex investigations of effects of charging a polymer resist (PMMA) during electron lithography
Rau E.I.
,
Evstaf'Eva E.N.
,
Zaitsev S.I.
, Knyazev M.A., Svintsov A.A.,
Tatarintsev A.A.
в журнале
Russian Microelectronics
, издательство
Maik Nauka/Interperiodica Publishing
(Russian Federation)
, том 42, № 2, с. 89-98
DOI
2013
Field-effect transistor with nanowire channel based on heterogeneously doped SOI
Amitonov S.V.
,
Presnov D.E.
,
Rudakov V.I.
,
Krupenin V.A.
в журнале
Russian Microelectronics
, издательство
Maik Nauka/Interperiodica Publishing
(Russian Federation)
, том 42, № 3, с. 160-164
DOI
2013
Novel Metal Carbon Nanocomposites and Carbon Nanocrystalline Material with Promising Properties for the Development of Electronics
Kozhitov L.V.
,
Kozlov V.V.
,
Kostikova A.V.
, Popkova A.V.
в журнале
Russian Microelectronics
, издательство
Maik Nauka/Interperiodica Publishing
(Russian Federation)
, том 42, № 8, с. 498-507
2013
Photovoltaic effect in a structure based on amorphous and nanoporous silicon formed by plasma immersion ion implantation
Myakon’Kikh A.V.
, Rogozhin A.E.,
Rudenko K.V.
, Lukichev V.F.
в журнале
Russian Microelectronics
, издательство
Maik Nauka/Interperiodica Publishing
(Russian Federation)
, том 42, № 4, с. 246-252
DOI
2012
Development of ferromagnetic semiconductors for applications in spin electronics: State and outlook
Orlov A.F.
,
Kulemanov I.V.
,
Parkhomenko Y.N.
,
Perov N.S.
,
Semisalova A.S.
в журнале
Russian Microelectronics
, издательство
Maik Nauka/Interperiodica Publishing
(Russian Federation)
, том 41, № 8, с. 443-452
DOI
2012
Silicon nanowire field effect transistor made of silicon-on-insulator
Presnov D.E.
,
Amitonov S.V.
,
Krupenin V.A.
в журнале
Russian Microelectronics
, издательство
Maik Nauka/Interperiodica Publishing
(Russian Federation)
, том 41, № 5, с. 310-313
DOI
2012
Study of the atomically clean InSe(0001) surface by X-Ray photoelectron spectroscopy
Volykhov A.A.
,
Neudachina V.S.
, Kharlamova M.V.,
Itkis D.M.
,
Yashina L.V.
,
Belogorokhov A.I.
в журнале
Russian Microelectronics
, издательство
Maik Nauka/Interperiodica Publishing
(Russian Federation)
, том 41, № 8, с. 521-526
DOI
2011
ERRATUM: READ-OUT ASIC FOR MICROSTRIP DETECTORS (RUSSIAN MICROELECTRONICS (2011) 40 :1 (52-58))
Voronin A.
, et al.
в журнале
Russian Microelectronics
, издательство
Maik Nauka/Interperiodica Publishing
(Russian Federation)
, том 40, № 2, с. 146
2011
Electrical parameters and the plasma composition in HCl-H2 mixtures
Efremov A.M.
,
Yudina A.V.
, Svettsov V.I.
в журнале
Russian Microelectronics
, издательство
Maik Nauka/Interperiodica Publishing
(Russian Federation)
, том 40, № 6, с. 371-378
DOI
2011
On the Essence of High Photosensitivity of a-Si:H Layered Films
Kurova I.A.
,
Ormont N.N.
в журнале
Russian Microelectronics
, издательство
Maik Nauka/Interperiodica Publishing
(Russian Federation)
, том 40, № 8, с. 616-619
DOI
2011
Optical Maskless Lithography
Belokopytov G.V.
,
Ryzhikova Yu V.
в журнале
Russian Microelectronics
, издательство
Maik Nauka/Interperiodica Publishing
(Russian Federation)
, том 40, № 6, с. 414-427
2011
Optimization of the tomographic algorithm of the reconstruction of plasma irregularities in process reactors of microelectronics
Fadeev A.V.,
Rudenko K.V.
, Lukichev V.F., Orlikovskii A.A.
в журнале
Russian Microelectronics
, издательство
Maik Nauka/Interperiodica Publishing
(Russian Federation)
, том 40, № 2, с. 108-118
DOI
2010
Intersubband Optical Transitions in InAs/GaSb Quantum Wells
Semenikhin I.A.
,
Zakharova A.A.
,
Chao K.A.
в журнале
Russian Microelectronics
, издательство
Maik Nauka/Interperiodica Publishing
(Russian Federation)
, том 39, № 1, с. 63-72
DOI
2007
Zn-P complex in Si: An ab-initio calculation of the structure and electron-spin properties
Aleksandrov A.I.
,
Dobryakov S.N.
,
Privezentsev V.V.
в журнале
Russian Microelectronics
, издательство
Maik Nauka/Interperiodica Publishing
(Russian Federation)
, том 36, № 3, с. 203-207
DOI
2005
Short-circuited double Langmuir probe as a model of a conducting wafer under plasma processing
Aleksandrov A.F.
,
Riaby V.A.
,
Savinov V.P.
,
Yakunin V.G.
в журнале
Russian Microelectronics
, издательство
Maik Nauka/Interperiodica Publishing
(Russian Federation)
, том 34, № 1, с. 18-21
DOI
2003
STATIONARY HIGH-FIELD DOMAIN IN SI: ZN AT THE EXCITATION THRESHOLD OF RECOMBINATION WAVES
Kornilov B.V., Privezentsev V.V., Gostev A.V.,
Rau E.I.
в журнале
Russian Microelectronics
, издательство
Maik Nauka/Interperiodica Publishing
(Russian Federation)
, том 32, № 5, с. 288
2002
Digital-reflectometry characterization of the surface structure and protective property of thin films
Kotenev V.A.
в журнале
Russian Microelectronics
, издательство
Maik Nauka/Interperiodica Publishing
(Russian Federation)
, том 31, № 6, с. 396-406
2001
COMPARATIVE ANALYSIS OF SCANNING ELECTRON MICROSCOPY TECHNIQUES FOR SEMICONDUCTORS: ELECTRON-BEAM-INDUCED POTENTIAL METHOD, SINGLE-CONTACT ELECTRON-BEAM-INDUCED CURRENT METHOD, AND THERMOACOUSTIC DETECTION
Rau E.I.
, Gostev A.V.,
Shiqiu Z.
,
Phang D.
,
Chan D.
,
Thong D.
,
Wong W.
в журнале
Russian Microelectronics
, издательство
Maik Nauka/Interperiodica Publishing
(Russian Federation)
, том 30, № 4, с. 207
1998
IMPROVEMENT OF THE ACCURACY OF DIFFRACTION MEASUREMENTS OF CIRCUIT FEATURE SIZES
Beklemishev N.N.
,
Benevolenskii S.B.
,
Istomina N.L.
, Kopylov P.V.
в журнале
Russian Microelectronics
, издательство
Maik Nauka/Interperiodica Publishing
(Russian Federation)
, том 27, с. 386-388
1996
Electrical breakdowns of MOS structures: A primary cause of chip degradation in plasma
Ryabyi V.A.
,
Savinov V.P.
,
Sporykhin A.A.
,
Yakunin V.G.
в журнале
Russian Microelectronics
, издательство
Maik Nauka/Interperiodica Publishing
(Russian Federation)
, том 25, № 2, с. 115-121
1996
MOS-structure electrical damage is the most important factor of microelectronic chips’ plasma degradation
Riaby V.A.
,
Savinov V.P.
,
Sporykhin A.A.
,
Yakunin V.G.
в журнале
Russian Microelectronics
, издательство
Maik Nauka/Interperiodica Publishing
(Russian Federation)
, том 25, № 2, с. 45
Страницы:
<< предыдущая
1
2
3
4
следующая >>